Precise Instrument 普赛斯仪表
武汉普赛斯仪表有限公司 是武汉普赛斯电子股份有限公司的全资子公司,公司以源表为核心产品,专注于半导体电性能测试设备的开发、生产与销售,提供精准高效的第三代半导体材料、晶圆、器件测试的整体解决方案及服务。聚焦第三代半导体领域高端测试设备的国产化,武汉普赛斯仪表坚持自主创新研发,积极打造对标进口、国内领先的实验与测试平台。掌握多项电性能测试核心专利技术,构建了高精度台式数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、脉冲恒压源、集成插卡式源表、高精度的超大电流源、高精度脉冲大电流源、高精度高压电源、数据采集卡等系列产品,电流覆盖pA至kA,电压覆盖μV至kV。基于自主核心仪表产品,我司创新打造了半导体参数分析仪、功率器件静态参数测试系统、大功率激光器老化测试系统、miniLED测试系统、电流传感器测试系统等测试平台,以高效率、高精度、低成本为核心,实现市场应用的集成创新。公司已建成覆盖全国的营销服务网络,并积极布局海外市场。凭借长期的技术创新、精益的生产制造、严格的质量体系及国际化视野,成为为数不多进入国际半导体测试市场供应链体系的半导体电性能测试设备厂商。产品被国内外知名高校、科研院所以及半导体企业广泛应用,并与多家半导体测试机厂家建立长期稳定的合作关系。未来,公司将始终以“提供供应链可控的高性能、低成本的有特色的测试仪器仪表和测试系统”为价值导向,坚持创新驱动,持续赋能全球半导体产业智能化测试升级。主要产品台式仪表S系列高精度台式源表,SXXB系列高精度台式源表,P系列高精度台式脉冲源表,PX00B系列高精度台式脉冲源表,PL系列窄脉冲LIV测试系统HCP系列大电流台式脉冲源表,HCPL100高电流脉冲电源,HCPL系列大功率激光器测试电源,E系列高电压源测单元插卡式仪表CS系列插卡式数字源表,A400数据采集卡,CP系列脉冲恒压源测试系统SPA6100半导体参数分析仪,PMST功率器件静态参数测试系统,半导体功率器件C-V特性测试系统,LDBI多路大功率激光器老化系统,CTMS电流传感器测试系统激光半导体测试解决方案功率半导体,分立器件,集成电路,材料研究,传感器,微电子教学研发团队4位教授级专家/博士研发人员总数占比60%以上研发人员30%为硕士核心技术竞争力模拟电路设计fA级电流输出与测量,6kA电流输出与测量,10kV高压输出与测量仿真设计板级分布参数提取,热性能仿真,高速信号完整性算法设计ms级指令响应,丰富的自定义扩展,高效低噪声数字电源测试验证精度、温漂等验证平台,丰富的功率器件测试经验,完善的测试设备发展历程2009年武汉普赛斯电子股份有限公司成立2010-2014年国家高新技术企业 误码仪、光功率计、光衰等产品问市2015年成立数十人的源表研发团队2015-2018年激光半导体行业: 光模块测试、OSA/ROSA/BOSA测试、TO测试等设备问市功率半导体行业: 源表一代产品应用于国际知名通信企业2019年武汉普赛斯仪表有限公司成立2019-2020年激光半导体行业:激光器耦合测试仪、LIV综合测试仪、采样示波器市场份额领先功率半导体行业: 国产化数字源表率先产业化:S系列、P系列、 PL窄脉冲测试系统2021-2024年国家级专精特新“小巨人”企业湖北省上市“金种子”企业高新技术企业激光半导体行业: 激光雷达TO老化、VCSEL晶圆等测试系统 功率半导体行业: 聚焦三代半,更高精度、更大电流、更大电压,产品矩阵全覆盖企业文化企业愿景成为化合物半导体光电测试仪器仪表龙头企业 企业使命让半导体企业的制造与测试更高效 核心价值观完美 求精 服务 创新
  • 武汉普赛斯仪表 普赛斯PMST-8000V 半导体测试设备

    大电流上升时间:15μs
    大电流脉宽范围:50μs-500μs
    最大电压:3500V
    最大电流:6000A
    栅极-发射极最大电压:30V
    栅极-发射极最大电流:10A(脉冲)
    栅极-发射极漏电流测试范围:10pA
    测试精度:±0.1%
    温控精度:±1℃
    温控范围:25℃-200℃
    电容测试范围:0.01pF~9.9999F
    电容测试频率范围:10Hz-1MHz
  • 武汉普赛斯仪表 SPA-6100型半参 半导体测试设备

    兼容性:支持高低温测试,兼容多种夹具定制
    小电流分辨率:1pA
    最大通道数量:根据选型不同,最大支持11个通道
    测量精度:全量程下0.03%
    电压范围:30μV-1200V
    电容测量频率范围:10kHz-1MHz
    电流范围:1pA-100A
    脉冲电流能力:最高10A(低压脉冲)至100A(高流脉冲)
  • 武汉普赛斯仪表 霍尔系统CTMS-1000A 半导体测试设备

    上升沿速度:300A/μs
    夹具类型:穿心式、连接式
    支持传感器类型:霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈、磁通门
    支持集成设备:数字万用表、示波器、温控台
    最大输出电流:1000A
    测试参数类型:零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间
    测试模式:动静态参数一体化测试
    测量精度:0.1%
  • 武汉普赛斯仪表 PMST-8000V功率器件测试系统 半导体测试设备

    导通电阻测试精度:μΩ级
    支持测试项目:Vces、V(br)ces、Vcesat、Ices、Iges、Vges、Vge(th)、Vf、I-V曲线、C-V曲线
    最大测试电压:3500V
    最大测试电流:6000A
    栅极-发射极最大测试电压:30V
    栅极-发射极最大测试电流:10A
    测试曲线类型:I-V特性曲线、C-V特性曲线
    测试精度:0.1%
    漏电流测试精度:nA级
    电容测试类型:输入电容、输出电容、反向传输电容
    电容测试频率:1MHz
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 国产S100B型号 半导体测试设备

    测试功能:电流、电压测试
    测试对象:晶圆、芯片、微小电子器件
    测量模式:四探针、三同轴
    系统组成:数字源表SMU + 探针台
    设备类型:数字源表SMU
    适用场景:半导体材料与器件电性能测试
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST-3300V 半导体测试设备

    最大输出电压:3500V(最大可扩展至10kV)
    最大输出电流:6000A(多模块并联)
    最小导通电阻测量能力:μΩ级
    最小漏电流测量能力:nA级
    模块化配置:支持多种测量单元灵活配置与升级
    测试效率:内置专用开关矩阵,支持一键测试
    测试温度范围:支持常温及高温测试
    测试项目:I-V特性曲线扫描、C-V特性曲线扫描、Vces、V(br)ces、Vcesat、Ices、Iges、Vges、Vge(th)、输入电容、输出电容、反向传输电容、续流二极管压降Vf等
    测量精度:0.1%
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 武汉SPA-6100 半导体测试设备

    兼容性:支持高低温测试, 探针台自动操作
    支持测试模式:I-V, C-V, 脉冲I-V
    测量精度:0.03%
    电压测量范围:30μV-1200V
    电容测量频率范围:10kHz-1MHz
    电流测量范围:1pA-100A
    软件支持:上位机软件, SCPI指令集
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 武汉普赛斯PMST-3500V 半导体测试设备

    导通电阻测量精度:μΩ级
    最大电压输出:3500V
    最大脉冲电流输出(集电极-发射极):6000A
    栅极-发射极最大脉冲电流输出:30V@10A
    模块化设计:支持模块自由配置与升级
    测试对象:MOSFET、BJT、IGBT、SiC、GaN等功率器件
    测试曲线类型:I-V特性曲线、C-V特性曲线
    测试模板:内置丰富测试模板
    测试精度:0.1%
    温度测试扩展:支持高低温测试
    漏电流测量能力:nA级
    电容测试类型:输入电容、输出电容、反向传输电容
    电容测试频率上限:1MHz
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 武汉普赛斯CTMS-1000A 半导体测试设备

    上升沿速度:300A/μs
    支持传感器类型:霍尔电流传感器(开环/闭环)、罗氏线圈、磁通门
    支持集成设备:数字万用表、示波器、温控台
    最大输出电流:1000A
    测试功能:零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间
    测试参数:偏置电压、线性度、阶跃响应时间、交流带宽、噪声频谱
    测量精度:0.1%
    设计特点:模块化设计、可定制化开发
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 普赛斯PMST-3500V 半导体测试设备

    支持器件类型:MOSFET、BJT、IGBT、SiC、GaN等功率器件
    支持测试项目:Vces、V(br)ces、Vcesat、Ices、Iges、Vges、Vge(th)、输入电容、输出电容、反向传输电容、Vf、I-V特性曲线扫描、C-V特性曲线扫描
    最大测试电压:3500V(最大可扩展至10kV)
    最大测试电流:6000A(多模块并联)
    最小导通电阻测量能力:μΩ级
    最小漏电流测量能力:nA级
    测试模式:静态参数测试
    测试环境:常温及高温测试
    测量精度:0.1%
    系统设计:模块化设计,支持升级与扩展
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 武汉普赛斯SPA-6100 半导体测试设备

    工控机配置:内置品牌专业工控机
    接口类型:USB, LAN
    显示器尺寸:21寸
    测量精度:0.03%
    电压范围:30μV-1200V
    电容测量频率范围:10kHz-1MHz
    电流范围:1pA-100A
    设备尺寸:580mm长×620mm宽×680mm高
    输入电源:220V 50/60Hz
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST-10KV 半导体测试设备

    大电流上升时间:<15μs
    大电流脉宽范围:50μs~500μs
    导通电阻测试精度:μΩ级
    最大电压:3500V(可扩展至10kV)
    最大电流:6000A(单机1000A,可并联)
    最小漏电流测试:10pA
    最小电压量程:300mV
    漏电流测试范围:1nA~100mA
    电压测试精度:±0.1%
    电容测试范围:0.01pF~9.9999F
    电容测试频率范围:10Hz~1MHz
    电流测试精度:±0.1%
    高压测试模式:恒压限流、恒流限压
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 国产SPA-6100型 半导体测试设备

    兼容性:支持三同轴接探针台, 兼容高低温测试
    控制方式:手动操作, 自动操作, 远程指令控制
    支持测试类型:IV测试, CV测试, 脉冲IV测试
    测量精度:0.03%
    电压范围:30μV-1200V
    电容测量频率范围:10kHz-1MHz
    电流范围:1pA-100A
    软件支持:专用半导体参数测试软件, SCPI指令集
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST-2200V 半导体测试设备

    大电压上升沿:典型值5ms
    大电流上升沿:典型值15μs
    大电流脉宽:50μs-500μs
    最大电压:3500V
    最大电流:6000A
    栅极-发射极最大电压:30V
    栅极-发射极最大电流:10A(脉冲)
    栅极-发射极最小电流分辨率:10pA
    温控准确度:±1℃
    温控范围:25℃-200℃
    漏电流测试范围:1nA-100mA
    电压准确度:±0.1%
    电容测试范围:0.01pF~9.9999F
    电容测试频率范围:10Hz-1MHz
    电流准确度:±0.05%
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 普赛斯SPA6100 半导体测试设备

    兼容测试环境:高低温测试
    支持测试模式:手动操作、自动操作、远程指令控制
    支持测试类型:IV、CV
    模块化设计:支持测量单元升级
    测量精度:0.03%
    电压范围:30μV-1200V
    电容测量频率范围:10kHz-1MHz
    电流范围:1pA-100A
    软件支持:专用半导体参数测试软件、SCPI指令集
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST-2200V型 半导体测试设备

    导通电阻测量精度:μΩ级
    最大输出电压:3500V(最大可扩展至10kV)
    最大输出电流:6000A(多模块并联)
    测试方式:四线制测试
    测试精度:0.1%
    漏电流测量精度:nA级
    脉冲电流上升时间:15μs
    脉冲电流脉宽范围:50~500μs
    高压测试模式:恒压限流,恒流限压
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 普赛斯仪表CTMS-1000A 半导体测试设备

    电流脉宽:50μs~500μs
    脉冲电流上升沿时间:典型时间15μs
    输出脉冲电流:5A~1000A量程,精度0.1%FS±1A
    输出负载电压要求:<12V@1000A
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 武汉普赛斯PMST-8000V 半导体测试设备

    导通电阻测量精度:μΩ级
    整体测量精度:0.1%
    最大输出电压:3500V(最大可扩展至10kV)
    最大输出电流:6000A(多模块并联)
    测试模式:恒压限流、恒流限压
    漏电流测量精度:nA级
    电流上升时间:15μs
    脉冲宽度范围:50-500μs
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 HCPL030 半导体测试设备

    DUT采样准确度:300mV量程,±0.1%±1mV;3V量程,±0.1%±3mV;30V量程,±0.1%±8mV
    DUT采样分辨率:16Bit
    DUT采样量程:300mV/3V/30V
    噪音:<65dB
    最小脉冲重复时间:100ms
    电流上升沿时间:10μs
    电流回读准确度:5A量程,±0.1%±16mA;100A量程,±0.1%±128mA;300A量程,±0.1%±256mA
    电流回读分辨率:16Bit
    电流回读量程:5A/10A/300A
    脉冲宽度范围:50μs~1ms
    设备尺寸:400mm✖185mm✖160mm
    输入电压范围:90-264V、50/60Hz
    输出脉冲电流准确度:5A量程,±0.1%±16mA;100A量程,±0.1%±128mA;300A量程,±0.1%±256mA
    输出脉冲电流分辨率:16Bit
    输出脉冲电流量程:5A/10A/300A
    输出负载电压:20V@300A & pulse≤500μs
    通讯接口:RS232/LAN
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST-8000V 半导体测试设备

    最大集电极-发射极电压:3500V
    最大集电极-发射极电流:6000A
    最小电压分辨率:30μV
    最小电流分辨率:10pA
    栅极-发射极大电流(脉冲):10A
    栅极-发射极最大电压:300V
    栅极-发射极测试精度:±0.05%
    温控精度:±2℃
    温控范围:25℃-200℃
    电容测试精度:±0.5%
    电容测试范围:0.01pF-9.9999F
    电容测试频率范围:10Hz~1MHz
    集电极-发射极大电流上升沿:典型值15μs
    集电极-发射极大电流脉宽:50μs-500μs
    集电极-发射极测试精度:±0.1%
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST-3500V 半导体测试设备

    导通电阻测量精度:μΩ级
    最大输出电压:3500V(最大可扩展至10kV)
    最大输出电流:6000A(多模块并联)
    测试响应时间(大电流):15μs
    测试模式:恒压限流、恒流限压
    测量精度:0.1%
    漏电流测量精度:nA级
    脉冲宽度范围:50-500μs
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST1210 半导体测试设备

    最大电压:3500V(可扩展至12kV)
    最大电流:1000A(可扩展至6000A)
    最小电压分辨率:30pV
    最小电流分辨率:10pA
    温控精度:±2℃
    温控范围:25℃-200℃
    漏电流测试范围:1nA-100mA
    电压上升沿时间:典型值5ms
    电压准确度:±0.1%
    电容值范围:0.01pF-9.9999F
    电容测试精度:±0.5%
    电容测试频率范围:10Hz-1MHz
    电流上升沿时间:典型值15μs
    电流准确度:±0.05%
    电流脉宽范围:50μs-500μs
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST3510 半导体测试设备

    最大电压:3500V(可扩展至12kV)
    最大电流:1000A(可扩展至6000A)
    最小电压分辨率:30pV
    最小电流分辨率:10pA
    温控精度:±2℃
    温控范围:25℃-200℃
    漏电流测试范围:1nA-100mA
    电压上升沿时间:典型值5ms
    电压准确度:±0.1%
    电容值范围:0.01pF-9.9999F
    电容测试精度:±0.5%
    电容测试频率范围:10Hz-1MHz
    电流上升沿时间:典型值15μs
    电流准确度:±0.05%
    电流脉宽范围:50μs-500μs
  • Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST3520 半导体测试设备

    大电流上升沿:典型值15μs
    大电流脉宽:50μs-500μs
    最大电压:3500V(可扩展至12kV)
    最大电流:1000A(可扩展至6000A)
    最小电压分辨率:30pV
    最小电流分辨率:10pA
    温控精度:±2℃
    温控范围:25℃-200℃
    漏电流测试范围:1nA-100mA
    电压准确度:±0.1%
    电容值范围:0.01pF-9.9999F
    电容测试精度:±0.5%
    电容测试频率范围:10Hz-1MHz
    电流准确度:±0.05%
  • 普赛斯仪表 ATE-3146 半导体测试设备

    同步触发总线:8线TrigBus
    局部总线带宽:2G
    支持测试器件类型:Si/SiC MOSFET、IGBT、GaN HEMT、二极管、三极管
    支持测试项目:IV测试、CV测试、击穿电压、漏电流、导通电阻、电容值、增益等
    测试电压范围:1200V(单卡)/3500V(扩展)
    测试电流范围:400A(单卡)/2000A(扩展)
    测试精度(CV测试):0.05%
    测试通道数:3工站IV+CV或4工站IV
    测试速度(UPH):9000(单工站,7个DC IV测试项)
    测量精度(电流):pA级
    测量精度(电阻):uΩ级
    通信架构:PXIe
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