产品概述
PMST-3500V是武汉普赛斯仪表有限公司自主研发的高功率半导体检测设备，专为功率半导体器件的静态参数测试设计。该系统支持从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等器件的静态特性测试，具备高精度、大电流、高电压、模块化设计等优势，适用于晶圆、芯片、器件、模块等多阶段测试需求。
核心特点/优势
- 支持高达3500V（最大可扩展至10kV）的电压输出和6000A（多模块并联）的大电流输出
- 具备nA级漏电流和μΩ级导通电阻的高精度测量能力
- 采用脉冲式大电流源，响应快、无过冲，典型上升时间为15μs
- 支持恒压限流和恒流限压模式，保障测试过程安全
- 内置专用开关矩阵，支持一键测试国标全指标
- 模块化设计，支持灵活配置与后期升级
- 支持常温及高温测试，兼容多种模块封装形式
应用领域
- 功率二极管测试
- MOSFET测试
- BJT测试
- IGBT测试
- SiC器件测试
- GaN器件测试
- 晶圆测试
- 芯片测试
- 器件模块测试
- 电力电子模块测试
选型指南/使用建议
根据测试需求选择PMST系列中的不同型号：PMST功率器件静态参数测试系统适用于实验室及小批量测试；PMST-MP适用于半自动化测试场景；PMST-AP适用于全自动化大批量产线测试。建议根据测试对象的电压、电流等级及测试精度要求进行配置，并确保测试环境具备良好的温度控制能力。
PMST-3500V 半导体测试设备选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 导通电阻测量精度 | μΩ级 | |
| 最大输出电压 | 3500V（最大可扩展至10kV） | |
| 最大输出电流 | 6000A（多模块并联） | |
| 测试响应时间（大电流） | 15μs | |
| 测试模式 | 恒压限流、恒流限压 | |
| 测量精度 | 0.1% | |
| 漏电流测量精度 | nA级 | |
| 脉冲宽度范围 | 50-500μs |
产品替代
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