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国产自研SM13043型四通道数字源表,实现并行测试与高精度测量兼顾
面对硅光晶圆、激光器、LED测试、MEMS测试、新能源和多引脚芯片等领域的高密度并行测试需求,高精度与高吞吐,是否只能二选一?武汉普赛斯给出答案:二者可以兼得
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什么是数字电桥?与万用表有哪些区别?
数字电桥是采用数字信号处理、自动平衡电桥技术,高精度测量电阻 R、电感 L、电容 C 及阻抗、Q 值、D 值的电子测量仪器,是元件筛选、研发与质检的核心设备。广泛应用于电工、电子、通信、计算机等领域中的电测量和精密测量等方面,常用于测量电阻、电容、电感、功率因数等电学参数。
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普赛斯仪表数字源表优势有哪些?
普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表以及电子负载等多种功能于一体;此外,SMU还具有多量程,四象限,二线制/四线制测试等多种特性。一直以来,SMU在半导体测试行业研发设计、生产流程得到了广泛应用
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如何用数字源表测试电阻式传感器电性能?
阻值测试本质上是FIMV(加电流测电压)或FVMI(加电压测电流),获取IV曲线后计算阻值。普赛斯源表具有丰富的电压电流量程
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插卡式功率半导体IGBT静态参数测试机
整套系统采用普赛斯自主开发的测试主机,内置高压模块,低压模块,高流模块,电容模块、高压采集卡、DIO卡等。  配合探针台Prober、分选机Handler可以实现KGD裸芯片,DBC测试,FT测试等。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求
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如何用数字源表快速扫描分立器件电性能
半导体分立器件特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应;通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,实施特性参数分析的最佳工具之一是数字源表(SMU)
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细数数字源表在光伏行业的应用
太阳能电池片常见测试项:开路电压(Voc)、短路电流(ISC)、峰值功率(Pmax)、峰值电压(Vmax)、峰值电流(Imax)、填充因子(FF)、转换效率(n)。
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SiC GaN三代半功率器件测试挑战及应对测试方案
SiC功率半导体因优势成行业热点,但面临复杂应力挑战。性能表征测试分静态和动态,要求高。普赛斯提供一站式高精密测试解决方案,满足行业高精度、大范围测试需求,具有模块化设计,易用且可扩展。

