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普赛斯仪表数字源表优势有哪些？
普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表以及电子负载等多种功能于一体；此外，SMU还具有多量程，四象限，二线制/四线制测试等多种特性。一直以来，SMU在半导体测试行业研发设计、生产流程得到了广泛应用
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如何用数字源表测试电阻式传感器电性能？
阻值测试本质上是FIMV（加电流测电压）或FVMI（加电压测电流），获取IV曲线后计算阻值。普赛斯源表具有丰富的电压电流量程
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插卡式功率半导体IGBT静态参数测试机
整套系统采用普赛斯自主开发的测试主机，内置高压模块，低压模块，高流模块，电容模块、高压采集卡、DIO卡等。  配合探针台Prober、分选机Handler可以实现KGD裸芯片，DBC测试，FT测试等。结合专用上位机测试软件，可根据测试项目需要，设置不同的电压、电流等参数，以满足不同测试需求
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如何用数字源表快速扫描分立器件电性能
半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，实施特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）
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细数数字源表在光伏行业的应用
太阳能电池片常见测试项:开路电压(Voc)、短路电流(ISC)、峰值功率(Pmax)、峰值电压(Vmax)、峰值电流(Imax)、填充因子(FF)、转换效率(n)。
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SiC GaN三代半功率器件测试挑战及应对测试方案
SiC功率半导体因优势成行业热点，但面临复杂应力挑战。性能表征测试分静态和动态，要求高。普赛斯提供一站式高精密测试解决方案，满足行业高精度、大范围测试需求，具有模块化设计，易用且可扩展。
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SMU数字源表与探针台连接示意图及注意事项有哪些
数字源表SMU与探针台组合用于半导体测试，连接需考虑线缆类型和探针选择。测试时需注意探针台接地、连接线接地、关闭光源，小电流测试加屏蔽罩，异面电极材料连接需注意Chuck盘平整度。
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基于数字源表的霍尔效应测试系统
霍尔效应是一种电磁感应现象，当电流垂直于外磁场通过半导体时，载流子发生偏转，垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场，如下图所示。霍尔效应测试中我们一般测试霍尔电压VH、电阻率ρ、霍尔系数RH、载流子浓度n、霍尔迁移率μH等参数。