产品概述
普赛斯仪表CTMS型半导体测试设备是一款专为霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门电流传感器等设计的高精度测试系统。该系统具备1000A大电流输出能力,测量精度达0.1%,支持动静态参数一体化测试,适用于多种电流传感器的全面性能评估。
核心特点/优势
- 支持开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门等多种电流传感器测试
- 最大输出电流达1000A,满足高功率测试需求
- 测量精度高达0.1%,确保测试结果的准确性
- 具备100A/μs级上升沿速度,支持KHz级带宽动态参数测量
- 支持零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间等参数的自动化测量
- 模块化设计,支持集成示波器、温控台等外设
- 支持正负极反转,提升测试灵活性
- 可定制化开发,满足不同客户测试需求
应用领域
- 高校研究所
- 实验室
- 新能源
- 光伏
- 风电
- 轨道交通
- 变频器
选型指南/使用建议
以1000A开环2KHz测量为例,典型配置包括:S系列源表2台、HCPL高电流脉冲电流源1台、普通直流电流源1台、高频电流源1台、矩阵开关1台、温控箱1台、示波器1台、主机1台。建议根据具体测试需求选择配置,并确保测试环境满足设备运行要求。
CTMS型 半导体测试设备选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 上升沿速度 | 100A/μs | |
| 支持测量参数 | 零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间 | |
| 最大输出电流 | 1000A | |
| 测量带宽 | KHz级 | |
| 测量精度 | 0.1% |
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