产品概述
PMST3510是Precise Instrument普赛斯仪表推出的一款高性能半导体测试设备，适用于多种功率半导体器件的参数测试。该设备支持高电压、大电流、高精度测试，具备模块化设计和多种测试功能，可广泛应用于二极管、三极管、MOS、IGBT、SiC、GaN HEMT、光耦等器件的测试。
核心特点/优势
- 支持高达3.5kV电压测试，最大扩展至12kV
- 支持高达1000A电流测试，最大扩展至6000A
- 具备uΩ级导通电阻、nA级漏电流测试能力
- 模块化设计，支持测量单元的扩展与升级
- 支持常温及高温测试，温控范围25℃-200℃
- 支持多种封装形式，提供定制化测试夹具
- 测试效率高，支持一键测试与自动切换
应用领域
- 适用于二极管的反向击穿电压、漏电流、正向电压、电流、电容值、I-V曲线、C-V曲线测试
- 适用于三极管的V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO、ICBO、VCE(sat)、VBE(sat)、IC、IB、Ceb、增益hFE、输入输出特性曲线、C-V特性曲线测试
- 适用于Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN HEMT的击穿电压、导通电阻、栅极内阻、输入输出电容、跨导、特性曲线测试
- 适用于四端口以下光耦的CTR、隔离电容、输入输出电容、电流传输比等测试
选型指南/使用建议
根据测试器件类型选择合适的测试夹具，确保测试电压、电流范围符合器件规格。建议在常温或高温环境下进行测试，以评估器件在不同温度下的性能表现。测试前需确认设备参数设置与测试需求匹配，确保测试精度与安全性。
PMST3510 半导体测试设备选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 最大电压 | 3500V（可扩展至12kV） | |
| 最大电流 | 1000A（可扩展至6000A） | |
| 最小电压分辨率 | 30pV | |
| 最小电流分辨率 | 10pA | |
| 温控精度 | ±2℃ | |
| 温控范围 | 25℃-200℃ | |
| 漏电流测试范围 | 1nA-100mA | |
| 电压上升沿时间 | 典型值5ms | |
| 电压准确度 | ±0.1% | |
| 电容值范围 | 0.01pF-9.9999F | |
| 电容测试精度 | ±0.5% | |
| 电容测试频率范围 | 10Hz-1MHz | |
| 电流上升沿时间 | 典型值15μs | |
| 电流准确度 | ±0.05% | |
| 电流脉宽范围 | 50μs-500μs |
产品替代
找到 个替代产品
温馨提示
若上述内容存在差异，请以产品手册为准。
如需获取样品、技术支持或完整规格书，请点击联系销售。
声明：本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题，请联系本网处理，侵权内容将在一周内下架整改。
半导体测试设备相关品牌
广告
半导体测试设备同类产品
加载中···
