Communication Interface:RS-232、GPIB、LAN |
Operating Temperature:25±10℃ |
光功率测量精度:0.5%FS±60uW |
光功率测量范围:0~10mW |
最大占空比:1% |
电源输入:AC100~240V 50/60Hz |
脉冲周期范围:10us~1s |
脉冲宽度步进:20ns |
脉冲宽度范围:100ns~5ms |
脉冲电压测量精度:0.5%FS±400mV |
脉冲电压测量范围:0~100V |
脉冲电流精度:0.1%FS±50mA |
脉冲电流输出范围:0~30A |
脉冲边沿时间:<脉宽的10% |
设备尺寸:106mm高 × 255mm宽 × 425mm长 |
质保期:1年 |
Output Current:6000A(多模块并联) |
导通电阻测量精度:μΩ级 |
扩展性:支持常温及高温测试,可定制夹具 |
最大输出电压:3500V(最大可扩展至10kV) |
测试效率:支持国标全指标一键测试 |
漏电流测量精度:nA级 |
电压精度:0.1% |
电压范围:300μV~300V |
电流精度:0.1% |
电流范围:100pA~100A |
Test Mode:四象限工作 |
数据存储方式:USB存储 |
显示屏:5寸触摸显示屏 |
最小电流分辨率:10pA |
电压精度:0.03% |
电压范围:300uV~300V |
电流精度:0.03% |
电流范围:10pA~3A |
通讯方式:RS-232、GPIB、以太网 |
AC测试信号准位:10mV至2Vrms(1mVrms解析度) |
DC偏压精度:0.1% |
DC偏压范围:0V~3500V |
DC测试信号准位:10mV至2V(1mVrms解析度) |
基本准确度:±0.05% |
导纳测量范围:0.1nS-99.999S |
支持测试参数:Ciss、Coss、Crss、Rg、IDSS、IGSS、BVDSS、CJ、IR、VR、Cies、Coes、Cres、ICES、IGES、VBRCES |
测试方式:点测、图形扫描 |
测试频率范围:10Hz-1MHz |
漏电流测试精度:≥10pA |
电容测量范围:0.01pF-9.9999F |
电感测量范围:0.1nH-9.999kH |
电阻测量范围:0.001mΩ-99.999MΩ |
编程协议:SCPI、LabView |
输出阻抗:100Ω |
频率输出精确度:±0.01% |
支持测试器件:二极管、晶体管、IGBT、第三代半导体、光电器件、传感器等 |
支持测试模式:直流、脉冲、AC电容 |
支持测试类型:I-V、C-V |
最大通道数量:3 |
电压范围:30μV-1200V |
电容测量频率范围:10Hz-1MHz |
电流范围:1pA-100A |
脉冲最小脉宽:200μs |
脉冲电流最大值:100A |
Maximum Current:10A |
万用表精度:0.0035% |
数字电桥精度:0.05% |
测试频率范围:10Hz-200KHz |
电压源范围:±30V(≤1A量程)、±300V(≤100mA量程) |
电流源范围:±1.05A(≤30V量程)、±105mA(≤300V量程) |
示波器存储深度:每通道10M |
示波器带宽:200MHz |
示波器采样率:1GSa/s |
Measured Analyte:电极材料 |
Test Mode:恒电位测量 |
功能集成:电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载 |
测试方法:循环伏安法 (CV) |
电极体系:三电极体系 |
适用材料:纳米材料电极 |
Maximum Current:6000A |
大电流上升时间:15μs |
大电流脉宽范围:50μs-500μs |
最大电压:3500V |
栅极-发射极最大电压:30V |
栅极-发射极最大电流:10A(脉冲) |
栅极-发射极漏电流测试范围:10pA |
测试精度:±0.1% |
温控精度:±1℃ |
温控范围:25℃-200℃ |
电容测试范围:0.01pF~9.9999F |
电容测试频率范围:10Hz-1MHz |
导通电阻测试精度:μΩ级 |
支持测试项目:Vces、V(br)ces、Vcesat、Ices、Iges、Vges、Vge(th)、Vf、I-V曲线、C-V曲线 |
最大测试电压:3500V |
最大测试电流:6000A |
栅极-发射极最大测试电压:30V |
栅极-发射极最大测试电流:10A |
测试曲线类型:I-V特性曲线、C-V特性曲线 |
测试精度:0.1% |
漏电流测试精度:nA级 |
电容测试类型:输入电容、输出电容、反向传输电容 |
电容测试频率:1MHz |
Output Type:脉冲输出(最大30A) |
Test Mode:四象限工作 |
序列测试:支持 |
控制方式:支持用户脚本程序,触屏操作 |
电压测试范围:±300mV~±300V |
电流测试范围:±100pA~±3A |
直流电压最大输出:300V |
直流电流最大输出:3A |
Function:小信号测试、交流测试(LCR表) |
Test Mode:四象限模式 |
探针台规格:4寸或6寸手动探针台 |
核心设备:源测量单元(SMU) |
测试方式:四线/开尔文测试 |
测试类型:IV特性测试、CV特性测试、LIV特性测试、霍尔效应测试、电阻率测试、太阳能电池特性测试 |
测试精度:高精度,满足新材料和新器件测试需求 |
软件架构:平台化设计,功能齐全,与专业测试软件相同架构 |
Output Current:6000A(多模块并联) |
最大输出电压:3500V(最大可扩展至10kV) |
最小导通电阻测量能力:μΩ级 |
最小漏电流测量能力:nA级 |
模块化配置:支持多种测量单元灵活配置与升级 |
测试效率:内置专用开关矩阵,支持一键测试 |
测试温度范围:支持常温及高温测试 |
测试项目:I-V特性曲线扫描、C-V特性曲线扫描、Vces、V(br)ces、Vcesat、Ices、Iges、Vges、Vge(th)、输入电容、输出电容、反向传输电容、续流二极管压降Vf等 |
Software Support:上位机软件, SCPI指令集 |
支持测试模式:I-V, C-V, 脉冲I-V |
电压测量范围:30μV-1200V |
电容测量频率范围:10kHz-1MHz |
电流测量范围:1pA-100A |
导通电阻测量精度:μΩ级 |
最大电压输出:3500V |
最大脉冲电流输出(集电极-发射极):6000A |
栅极-发射极最大脉冲电流输出:30V@10A |
模块化设计:支持模块自由配置与升级 |
测试对象:MOSFET、BJT、IGBT、SiC、GaN等功率器件 |
测试曲线类型:I-V特性曲线、C-V特性曲线 |
测试模板:内置丰富测试模板 |
测试精度:0.1% |
温度测试扩展:支持高低温测试 |
漏电流测量能力:nA级 |
电容测试类型:输入电容、输出电容、反向传输电容 |
电容测试频率上限:1MHz |
Model Specification:LDBIxx系列 |
Test Mode:CW及QCW |
光电流检测通道数:1路,可支持16路分时复用 |
光电流测量范围:0-10mA |
电压测量范围:0-100V |
电压测量通道数:16通道 |
系统电源:三相 380V/50Hz,防浪涌 |
脉冲宽度范围:100us~3ms |
设备尺寸(宽*高*深):1093mm*2070mm*905mm |
设备重量:<500kg |
Maximum Current:6000A |
最大电压:3500V |
栅极-发射极最大电压:300V |
栅极-发射极最大电流:1A(直流)/10A(脉冲) |
栅极-发射极最小电压分辨率:30uV |
栅极-发射极最小电流分辨率:10pA |
栅极-发射极电压精度:0.05% |
温控精度:±1℃ |
温控范围:25℃~150℃ |
电容测试精度:0.5% |
电容测试范围:0.01pF~9.9999F |
电容测试频率范围:10Hz~1MHz |
集电极-发射极电压精度:0.10% |
集电极-发射极电流上升沿:典型值15us |
Model Specification:LDBIxx系列 |
Test Mode:CW及QCW |
Weight:<500kg |
光电流检测通道数:1路,可支持16路分时复用 |
光电流测量范围:0-10mA |
尺寸(宽*高*深):1093mm*2070mm*905mm |
电压测量范围:0-100V |
电压测量通道数:16通道 |
系统电源:三相 380V/50Hz,防浪涌 |
脉冲宽度:100us~3ms |
AC测试信号准位:10mV至2Vrms(1mVrms解析度) |
DCR测量范围:0.001mΩ-9.999MΩ |
DC测试信号准位:10mV至2V(1mVrms解析度) |
D值测量范围:0.00001-9.9999 |
Q值测量范围:0.1-9999.9 |
偏压精度:0.1% |
偏压范围:0V-3500V |
基本准确度:±0.05% |
导纳测量范围:0.1nS-99.999S |
支持测试参数:Ciss、Coss、Crss、Rg、IDSS、IGSS、BVDSS、Cies、Coes、Cres、ICES、IGES、VBRCES、CJ、IR、VR |
支持测试器件类型:DIODE、MOSFET、IGBT |
测试方式:点测、图形扫描 |
测试频率范围:10Hz-1MHz |
源测精度:0.03%-0.1% |
电容测量范围:0.01pF-9.9999F |
电感测量范围:0.1nH-9.999kH |
电阻测量范围:0.001mΩ-99.999MΩ |
相位角测量范围:-180° -+180° |
编程协议:SCPI、LabView |
输出阻抗:100Ω |
频率输出精确度:±0.01% |
Communication Interface:RS-232、GPIB、以太网 |
Dimensions:106mm高 × 255mm宽 × 425mm长 |
Operating Temperature:25±10℃ |
Output Current:3.15A |
Test Mode:四象限工作(源和肼) |
扫描模式:线性扫描、指数扫描、用户自定义扫描 |
显示屏:5寸800*480触摸显示屏 |
最大输出功率:30W |
最大输出电压:300V |
最小电流分辨率:3pA |
电源输入:AC 100~240V 50/60Hz |
采样速率:1000 S/s |
Rise Time:15μs |
导通电阻测试精度:μΩ级 |
支持测试项目:ICES、IGESF、IGESR、BVCES、VGETH、VCESAT、VF、I-V特性曲线、C-V特性曲线、输入电容、输出电容、反向传输电容 |
最大测试电压:3500V |
最大测试电流:6000A |
栅极-发射极测试电压:30V |
栅极-发射极测试电流:10A |
测试精度:0.1% |
漏电流测试能力:pA级 |
电容测试频率:1MHz |
Application Range:分立器件特性测试、能量与效率测试、传感器测试、有机材料测试、纳米材料测试、激光器测试、功率器件测试 |
Function:数字电压表、数字电流表、数字欧姆表 |
Measured Analyte:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等 |
指令集标准:SCPI指令集 |
输出模式:电压源、电流源、恒压负载、恒流负载、SMU组合模式 |
Software Support:专用半导体参数测试软件、SCPI指令集 |
兼容测试环境:高低温测试 |
支持测试模式:手动操作、自动操作、远程指令控制 |
支持测试类型:IV、CV |
模块化设计:支持测量单元升级 |
电压范围:30μV-1200V |
电容测量频率范围:10kHz-1MHz |
电流范围:1pA-100A |
Communication Interface:RS-232、GPIB、以太网 |
Operating Temperature:25±10℃ |
Size:106mm高 × 255mm宽 ×425mm长 |
Supply Voltage:AC 100~240V 50/60Hz |
Weight:5KG |
四象限工作模式:支持 |
扫描模式:线性扫描、指数扫描、用户自定义扫描 |
最大输出功率:30W |
最大采样速率:32000 S/s |
电压精度:0.03% |
电压范围:300uV~300V |
电流精度:0.03% |
电流范围:100pA~3A |
质保期:1年 |
Communication Interface:RS-232, GPIB, LAN |
Dimensions:106mm高 × 255mm宽 × 425mm长 |
Operating Temperature:25±10℃ |
上升速度:300A/μs |
峰值光功率测量准确度:±0.5% |
峰值光功率测量量程:0.1mW, 1mW, 10mW |
支持模式:CW, QCW |
最大占空比:1% |
电流脉冲输出准确度:0.1%±3mA (300mA), 0.1%±20mA (3A), 0.1%±50mA (30A) |
电流脉冲输出量程:300mA, 3A, 30A |
电源输入:AC100~240V, 50/60Hz |
直流恒流输出最大电压:10V |
直流恒流输出最大电流:3A |
脉冲周期范围:1μs~1s |
脉冲宽度步进:25ns |
脉冲宽度范围:1μs~1ms |
脉冲电压测量准确度:±0.1%±50mV (10V), ±0.1%±400mV (80V) |
脉冲电压测量量程:10V, 80V |
脉冲电流最大输出:30A |
脉冲边沿时间:<脉宽的10% |
触发接口:TTL Trig IN, Trig OUT |
质保期:1年 |
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