产品概述
普赛斯LDBIxx系列半导体激光器参数测试设备是专为千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块设计的测试与老化系统。该系统采用抽屉式结构，支持多层扩展，具备大电流窄脉冲恒流特性，具备防过冲、防反冲、抗浪涌等多重保护功能。系统集成高温环境控制、直流/脉冲驱动电源、收光装置、循环水冷系统、定制夹具、温度采集器及上位机，实现自动测试、数据采集与上传，适用于批量老化与性能测试。
核心特点/优势
- 单抽屉最多支持16路8抽屉，支持1-16只激光器串联老化
- 各通道独立运行，电流回读，同步测量电压、光功率等数据
- 加热膜加热，温控范围室温～125℃，绝对精度±1℃，温度均匀性±2℃
- 支持CW及QCW模式，兼容直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描四种工作模式
- 电源具备抗浪涌设计，收光装置采用水冷方式
- 支持自动测试、数据记录与导出，实现高效率、多单元监控
应用领域
- 大功率LED的LIV测试及产线批量老化
- 大功率激光器的LIV测试及产线批量老化
- 大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的稳定性及可靠性测试
LDBIxx系列 半导体测试设备选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 产品型号 | LDBIxx系列 | |
| 光电流检测通道数 | 1路，可支持16路分时复用 | |
| 光电流测量范围 | 0-10mA | |
| 工作模式 | CW及QCW | |
| 电压测量范围 | 0-100V | |
| 电压测量通道数 | 16通道 | |
| 系统电源 | 三相 380V/50Hz,防浪涌 | |
| 脉冲宽度范围 | 100us～3ms | |
| 设备尺寸（宽*高*深） | 1093mm*2070mm*905mm | |
| 设备重量 | ＜500kg |
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