应对高低压挑战，干簧继电器实现老化测试一体化
在半导体与电子产品的可靠性验证过程中，老化与寿命测试系统扮演着关键角色。依据不同的测试需求，老化测试设备可能需要支持数百伏的低压精密信号切换，用于IC性能评估和微弱信号采集；也可能需承受数千伏的高压应力测试，主要面向功率器件如MOSFET、IGBT以及SiC和GaN等宽禁带半导体。
老化测试开关面临多重技术难题。
在低压应用中，系统需在成千上万的被测单元（DUT）通道中保持信号的完整性。微小的接触电阻变化、热电势或寄生电容/电感的漂移，都可能对测量结果造成干扰。
高压环境下，核心挑战则集中于系统安全性与电气隔离。若未能有效防止介电击穿、电弧或漏电流，测试数据将难以信任。
此外，长期测试工况（如持续数天的高温负载）进一步提升了系统设计的复杂性，要求继电器能在恶劣环境中实现百万次以上的稳定切换。
干簧继电器：兼顾精度与耐压的理想选择
作为一种成熟的开关技术，干簧继电器在老化测试系统中展现出卓越的适应能力，既满足低压下对信号保真度的高要求，又在高压应用中表现出良好的电气隔离特性。
低压场景的技术难点与应对策略
- 接触电阻的微小漂移会显著影响参数测量的准确性。
- 触点处产生的热电动势可能掩盖低电平信号。
- 寄生电容和电感会对高灵敏度信号造成干扰。
干簧继电器在低压应用中提供如下解决方案：
- 其稳定的低电阻接触特性可在数亿次操作中维持测量的完整性。
- 低热电势设计有效避免了精密测试中的电压偏移。
- 通过优化寄生参数，确保在高密度开关矩阵中仍能保持信号完整性。
- 气密封装结构有效防止污染物侵入，从而延长设备使用寿命。
高压环境下的挑战与应对措施
- 长期承受高压可能引发介质击穿、电弧放电或局部放电。
- 通道之间的漏电流会干扰测量准确性。
- 为确保安全，需增加电气间隙，这对PCB布局造成一定挑战。
干簧继电器在高压应用中的优势体现在：
- 紧凑型玻璃封装结构支持高介电强度，适合空间受限的系统。
- 高绝缘电阻有助于抑制漏电流。
- 明确的爬电距离与电气间隙设计，确保系统安全并简化PCB布局。
设计选型建议
在测试测量系统设计中，继电器选型需兼顾低压场景下的信号保真度与高压环境中的电气隔离能力。单一功能导向的继电器往往难以在性能之间取得平衡。
斯丹麦德电子推出的干簧继电器产品线，通过多系列设计，精准满足不同电压等级的应用需求。
斯丹麦德电子产品系列
- SIL、MS与UMS系列：适用于通孔安装，提供低压高精度切换。
- CRR系列：基于陶瓷基板，支持表贴安装，具备低热电势特性。
- SHV、KT及BH系列：专为高压隔离设计，支持数千伏级别的电压。
- BE与MRE系列：适用于低噪声信号切换或大电流脉冲应用。
这些产品系列共同覆盖了从精密信号采集到高压隔离测试的全流程需求，为构建可靠的老化测试平台提供坚实基础。