高低压兼得，干簧继电器助力精准老化测试
在半导体与电子产品的可靠性评估过程中，老化与寿命测试系统扮演着至关重要的角色。这类测试通常要求系统具备应对多种电压等级的能力。
在不同应用场景中，测试设备可能需要支持高达200V的低压精密控制，以满足IC测试与信号测量的需求；而在功率器件的评估中，设备则需承受高达3kV的高电压应力，主要用于评估MOSFET、IGBT以及SiC/GaN等器件的性能。
老化测试开关的技术难点
在低压应用（200V以下）中，关键挑战在于维持通道间的信号完整性。微小的接触电阻波动、热电动势或寄生参数的变化都可能影响测量精度。
而高压操作（1kV以上）则更注重安全性与隔离能力。必须有效防止介电击穿、电弧及漏电流的产生，否则测试将失去有效性。
此外，由于老化测试往往持续数天，系统在高温环境下需具备数百万次的稳定切换能力。
干簧继电器在老化测试中的优势
干簧继电器因其同时具备低压高精度与高压高耐久性的特点，成为提升测试系统可靠性的理想选择。
低压开关的技术挑战
- 接触电阻的微小变化可能影响参数测量的准确性。
- 触点处的热电动势可能干扰微小电压信号。
- 寄生电容和电感可能干扰高灵敏度信号路径。
低压下的干簧继电器解决方案
- 稳定的低接触电阻可在数亿次操作中维持信号完整性。
- 低热电动势有助于减少精密测试中的电压偏移。
- 低寄生参数设计保障高密度开关矩阵中的信号完整性。
- 气密封装能有效防止污染，提升器件使用寿命。
高压开关的技术挑战
- 长期高压操作可能引发介电击穿或局部放电。
- 开关路径间的漏电流可能导致测量误差。
- 较大的电气间隙需求可能限制PCB的集成密度。
高压下的干簧继电器解决方案
- 玻璃封装结构可在有限空间内提供高介电强度。
- 高绝缘电阻有助于最小化漏电流。
- 明确的爬电距离与电气间隙提升安全性能并简化PCB设计。
设计与选型建议
在测试测量系统设计中，工程师需同时考虑低压下的精度与高压下的隔离能力。单一功能的继电器往往在其他性能方面有所妥协。
斯丹麦德电子的干簧继电器通过提供专为不同需求优化的型号，有效解决了这一难题。其低压型号具备极低的寄生参数，适用于高精度测试；而高压型号则支持超过1.5kV的切换能力，并具备数千伏的隔离电压。
此外，这些继电器在精确测量、高效隔离与长寿命操作方面表现优异，使设计人员能够统一使用干簧继电器技术构建可靠的混合电压系统。
斯丹麦德电子的产品系列进一步拓展了其技术优势：
- SIL、MS与UMS系列：提供通孔安装的紧凑型低压精密开关。
- CRR系列：陶瓷基板设计支持表贴安装，具备低热电动势。
- SHV、KT及BH系列：适用于数千伏级别的高压隔离。
- BE与MRE系列：适用于低噪声信号切换或大脉冲电流。
这些产品共同覆盖了老化测试中的各类需求，为构建稳定可靠的测试系统奠定了坚实基础。