资讯
查看更多 >-
inTEST 热流仪半导体 BGA 封装工艺温度测试
上海伯东美国 inTEST 高低温冲击热流仪为半导体 IC 封装芯片, 组件, PCB, MEMs, MCM, BGA,CSP 等提供精确的温度测试环境. inTEST 热流仪灵活的, 可移动测试罩直接为待测芯片提供热或冷气流, 能够在实验室或生产车间进行快速温度循环或冲击试验, 提供直观的器件温度表征.
-
inTEST 热流仪 SiC 碳化硅功率器件温度测试
上海伯东美国 inTEST 高低温冲击热流仪, 兼容各类半导体测试仪器, 为 SiC 碳化硅功率器件的温度测试提供解决方案.
-
inTEST ATS-545 热流仪车载显示器高低温光学测量应用
上海伯东美国 inTEST 热流仪 ATS-545 适用于高低温环境和光照环境下的车载显示器光学测试系统, 实现各类车载显示器在环境温度和光照环境下的光学项目测试.
-
inTEST BT28 热流仪光模块高低温测试
上海伯东美国 inTEST BT28 桌面型高低温冲击热流仪, 适用于对低温要求不高的非高功率芯片或者器件测试, 例如光模块, 光通讯研发, 存储芯片, MCU 芯片研发等, inTEST BT28 热流仪台式设计, 占地面积小, 满足场地有限的实验环境.
-
inTEST ATS-710E 高低温冲击热流仪助力 AI 芯片国产化
上海伯东代理美国 inTEST 高低温冲击热流仪助力 AI 芯片国产化, 协助研发各类 GPU, TPU 芯片, 在 AI 芯片的制造和设计中的温度测试环节, 通过进行全面而精确的高低温冲击测试, 提前发现并解决潜在的设计缺陷, 从而确保芯片在长期使用中的性能和可靠性.
-
IBE 离子束刻蚀机传感器 MEMS 刻蚀应用
上海伯东日本原装进口离子束刻蚀机 IBE 可以很好的解决传感器 MEMS 的刻蚀难题, 射频角度可以任意调整, 蚀刻可以根据需要做垂直, 斜面等等加工形状, 刻蚀那些很难刻蚀的硬质或惰性材料.
-
Hakuto 日本制造离子束刻蚀机 IBE
上海伯东日本原装进口离子束刻蚀机 IBE,提供成熟可靠的刻蚀解决方案,基于 50多年的离子束刻蚀经验,提供从小型研发到生产型的标准刻蚀机和定制刻蚀系统,刻蚀均匀性 ≤±5% (部分材料 3%), 适用于自旋电子学,磁传感器, 射频器件等.
-
铌酸锂 LiNbO3 薄膜 IBE 离子束刻蚀
随着基于铌酸锂 LN 的光源,光调制,光探测等重要器件的实现,铌酸锂 LN 光子集成芯片有望像硅基集成电路一样,成为高速率, 高容量, 低能耗光学信息处理的重要平台, LiNbO3 薄膜刻蚀成特定的图形才能用于芯片,因 LiNbO3 惰性特性,使用 ICP 或 RIE 工艺无法完成刻蚀,上海伯东 IBE 离子束刻蚀机为铌酸锂 LiNbO3 薄膜刻蚀提供解决方案