Hakuto 伯东 20 IBE-C IBE 离子束刻蚀机

Hakuto 离子束刻蚀机 20 IBE-C

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2026-08-20 10:19:22
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  • 20 IBE-C

  • 半导体封测

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产品概述

上海伯东日本原装进口的Hakuto 20 IBE-C离子束刻蚀机,专为中等规模量产设计。该设备采用干法物理刻蚀技术,具备纳米级刻蚀精度,适用于各类难以通过反应离子刻蚀(RIE)处理的特殊材料。设备配备自动化操作流程与德国Pfeiffer真空系统,结合50余年市场验证的离子束刻蚀技术,确保高效、稳定的生产性能。

核心特点/优势

  • 纳米级干法物理刻蚀精度,几乎兼容所有材料的刻蚀需求,有效补充RIE工艺局限。
  • 射频角度支持0-90度任意调整,可灵活实现垂直、斜面等多种加工形状。
  • 样品台支持直接/间接冷却,工作温度控制在100°C以下,满足低温刻蚀工艺要求。
  • 配置“Dry Chuck Planet”公转自转传输机构,刻蚀均匀性高达≤±5%,表面平滑度优异。
  • 采用德国Pfeiffer分子泵与旋片泵组合,真空性能稳定;全自动化操作流程,大幅降低人工干预,提升生产友好度。

应用领域

  • 中等规模半导体量产
  • 离子清洗与离子蚀刻工艺
  • 辅助镀膜(IBAD)与离子溅射镀膜(IBSD)
  • 离子束抛光(IBF)
  • 各类真空设备配套工艺

选型指南/使用建议

设备价格与货期因具体配置而异,建议根据实际量产需求与供应商确认详细配置方案。样品台可根据工艺需求选配直接冷却或间接冷却模块,低温工艺建议优先选择直接冷却配置。基板尺寸支持φ3英寸(8片)、φ4英寸(6片)及φ8英寸(1片)多种规格,请根据实际晶圆尺寸与产能需求进行选型。设备采用自动化操作流程,建议操作人员熟悉标准作业程序(SOP)以充分发挥其高效稳定的生产优势。

20 IBE-C 半导体封测选型参数

规格项 参数值 勾选搜索替代
更多规格
刻蚀均匀性 ≤±5%
刻蚀率 20 nm/min
基板尺寸 < φ3 inch X 8片, < φ4 inch X 6片, < φ8 inch X 1片
工作温度 <100°C
旋转角度 0-90度
样品台冷却方式 直接冷却 / 间接冷却
真空泵配置 德国 Pfeiffer 分子泵和旋片泵
离子源均匀性 ±10% (for 8”Ф硅片)

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