上海伯东美国 inTEST BT28 桌面型高低温冲击热流仪, 适用于对低温要求不高的非高功率芯片或者器件测试, 例如光模块, 光通讯研发, 存储芯片, MCU 芯片研发等, inTEST BT28 热流仪台式设计, 占地面积小, 满足场地有限的实验环境.
inTEST BT28 为光模块高低温测试提供降本增效的解决方案
1. 样品准备：将待测光模块插装于生产测试板上
2. 温控设置：使用 inTEST BT 28 热流仪, 设置待测光模块的外壳温度为 0℃, 40℃ 和 70℃
3. 电压设置：设置待测光模块的不同工作电压
4. 测试执行：结合其他测试设备, 如接收灵敏度测试仪, 光功率计等, 获取光模块的各项性能指标
5. 数据分析：对测试结果进行分析, 确保光模块在不同温度和电压条件下的性能满足设计要求
inTEST 热流仪利用创新的温度测试解决方案, 方便您直接在公司实验室及工作平台上进行光组件, 电路板模块等测试.节省空间的设计同时保证快速, 准确的温度控制, 同时最大限度地减少对环境的影响.
美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
若您需要进一步了解 inTEST 热流仪详细信息或讨论,
请联络上海伯东: 叶女士 13918837267