简仪科技推出基于PXI架构的超声无损检测与健康监测系统
在现代装备制造业中，对金属结构件、复合材料及陶瓷组件的内部质量进行评估，已成为确保产品可靠性的核心步骤。超声无损检测技术正是这一过程中的关键手段，它通过向材料中发射高于20 kHz的高频声波，并分析其在传播过程中因缺陷或界面变化产生的反射、折射与散射现象，从而实现对裂纹、气孔等内部缺陷的非破坏性识别。
随着研发与质量控制标准的不断提升，传统检测方式在精度、效率及系统扩展性方面逐渐显现不足。特别是在研发阶段，系统需具备高采样率、多通道同步能力及良好的可扩展性，以捕捉更微小的缺陷信息，并满足未来复杂检测场景的技术演进。
在这一背景下，超声无损检测系统面临多重技术挑战。例如，系统需同时输出两路激励信号并同步采集两路传感器回波，这对硬件的时序同步与实时处理能力提出较高要求。同时，研发需求推动了对更高采样率的要求，以提高缺陷识别的精度。此外，系统还应支持模块化架构，便于后续功能扩展与升级。
为应对这些挑战，简仪科技推出了一套基于PXI架构的超声无损检测与健康监测解决方案。该系统以高性能PXI硬件平台为基础，结合开源锐视测控软件，构建了集“硬件+软件+服务”于一体的完整体系。通过PXIe-9702任意波形发生器模块实现两路激励信号的稳定输出，由PXIe-9823高速数字化仪完成两路传感器信号的1 GS/s高速采集，并依托PXIe-3127a控制器的强劲数据处理能力与PXIe-2315G3机箱的高带宽传输优势，实现从信号激励、采集到处理的全流程高效协同。
该方案不仅满足了研发阶段对高采样率与同步性的严苛要求，其模块化设计也为未来通道扩展与功能升级预留了充分空间，契合客户长期发展战略。
简仪产品组合
硬件平台：
- **PXIe-2315G3**：五槽全混合机箱，支持PCIe Gen3高速传输
- **PXIe-3127a**：搭载第11代Intel Core i7-11850HE处理器的高性能控制器
- **PXIe-9702**：双通道任意波形发生器，分辨率达16位，采样率最高250 MS/s
- **PXIe-9823**：双通道高速数字化仪，采样率1 GS/s，分辨率16位
软件平台：
- **SeeSharpTools**：基于C#开发的锐视测控软件开发包，提供可视化编程支持与丰富的驱动库
为何选择简仪科技
- 成熟的平台技术：基于长期市场验证的硬件平台，具备稳定的性能表现
- 快速验证支持：提供POC（原理验证）服务，协助客户提前确认系统兼容性与功能可行性
- 高精度检测能力：系统满足客户对测试精度与可靠性的严苛要求
- 成本优势显著：相比国际品牌，简仪在性能不妥协的前提下大幅降低总体拥有成本
- 供应链响应迅速：具备高效的供货能力，确保项目进度不受影响
- 本地化技术支持：配备专业本地工程师团队，可提供快速响应与定制化服务
简仪科技的这一解决方案，全面满足了客户在研发阶段对系统精度、扩展性及数据处理能力的多维需求。通过整合高性能硬件平台、开源软件工具与全方位服务支持，该系统不仅攻克了多通道同步、高速采集及模块化扩展等技术难题，更在提升检测效率与数据准确度方面发挥了关键作用，为客户的研发创新与市场拓展提供了有力支撑。