马波斯推出Horizon：新一代干涉测量控制器
马波斯近期发布了一款先进的光谱测量设备——Horizon干涉测量控制器。这款控制器专为需要纳米级测量精度的行业设计，广泛适用于半导体制造、3C（计算机、通信、消费电子）等多个领域。
Horizon采用干涉测量原理，具备纳米级分辨率，不仅在重复测量时表现出色，而且具备优异的长期稳定性。由于其非接触式测量方式，能够有效减少热漂移和机械磨损，从而满足晶圆检测、平面度测量、光刻掩模对准以及微电子器件检测等多种高端应用场景的需求。
优异的系统柔性
Horizon产品线具有高度灵活性，支持广泛的波长范围和多种传感器配置。这种设计使其能够在不同材质、表面特性和环境条件下实现稳定测量。系统还支持多传感器协同工作，用户可根据具体需求定制测量方案，确保测量精度始终如一。
满足工业计量高标准
该控制器能够满足高技术行业对精确度和可靠性的严苛要求。在精密制造过程中，纳米级的分辨率是关键，而Horizon通过稳健的结构设计，确保测量系统在测试和生产环境中稳定运行。其支持线上与线下的尺寸控制，进一步提升了测量效率。
Horizon配备了多种模拟和数字输入输出接口，兼容多种通信协议，可无缝接入工业自动化系统。借助现场总线和高速数据传输通道，设备可实现多编码器同步运行，支持全动态测量。其主/从式网络架构也为多点测量应用提供了良好的同步性能。
软件生态支持强大
Horizon提供丰富的软件工具包，增强整体使用体验。例如，MIC Tool高级配置软件支持多种材料和几何结构的参数设置；SDK Tool则便于与OEM测量和自动化系统集成；而专为Windows®系统设计的Quick SPC™软件，具备完整的统计过程控制功能，并提供多个行业专用插件。
高精度应用的理想选择
Horizon控制器专为满足高精度制造需求而设计，可实现生产流程的严格控制，有效降低废品率，保障产品一致性。该设备特别适用于半导体领域的晶圆对准、蚀刻深度测量和缺陷检测，也广泛应用于3C行业的结构完整性分析与组件检测。
随着Horizon的正式发布，马波斯为高端制造市场提供了一款融合高精度、高速度与稳定性的行业领先测量解决方案，能够全面满足现代制造业对测量性能的严苛要求。