产品概述
非制冷探测器测试机主要用于配合测试系统完成探测器的性能检测，适用于晶圆级探测器、金属探测器及陶瓷探测器等多种产品。该设备专为非制冷红外焦平面探测器自动测试设计，可灵活推广至多种类传感器的自动测试场景。
核心特点/优势
- 高精度定位与校准：黑体辐射面中间位置误差≤±0.5mm，工装与黑体平行度≤3°，产品定位精度高达≤±0.03mm，确保测试数据精准可靠。
- 灵活兼容测试模式：采用立式黑体设计，机台可兼容单目测试和多目测试，满足不同规格探测器的高效检测需求。
- 智能自动检测与数据处理：支持窗片崩边、引脚变形自动检测，并可根据测试结果自动生成Mapping图，大幅提升检测效率与数据分析能力。
- 高度可配置化：测试流程支持灵活配置，测试距离可调，适应多样化产线工艺要求。
应用领域
- 非制冷红外焦平面探测器自动测试
- 晶圆级探测器、金属探测器及陶瓷探测器性能检测
- 多种类传感器的自动测试与产线集成
选型指南/使用建议
建议根据实际探测器规格（单目/多目）及产线节拍需求配置测试流程与测试距离。设备需配合标准测试系统使用，建议定期校准黑体辐射面位置及工装平行度以维持精度指标。适用于洁净度要求较高的半导体及传感器制造车间。
非制冷探测器测试机 光电传感器及开关选型参数
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| Parallelism Tolerance | ≤3° | |
| Positioning Accuracy | ≤±0.03mm |
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