艾默生推出高性能、低成本的NI PXI测试硬件，推动模块化测试普及
艾默生近期发布了一系列高性能且经济实惠的测试硬件，旨在降低NI PXI测试平台的应用门槛。这些硬件在保留NI PXI平台高精度与可靠性的基础上，使更多工程团队能够便捷地部署可扩展、低成本的自动化测试系统，并为引入AI增强型测试流程打下基础。
此次推出的新款NI PXI设备涵盖高分辨率示波器、多功能I/O模块、嵌入式控制器及混合式机箱等核心组件。这些产品延续了NI平台在软件集成、同步测量与高通道密度方面的优势，同时大幅降低了系统开发的经济门槛。配合LabVIEW™、InstrumentStudio™和TestStand™等成熟软件生态，艾默生为测试团队提供了更高效的自动化部署方案，有助于提升测试系统的灵活性和可持续性。
这一系列成本亲民的产品为中小型团队及新兴行业打开了进入NI测试平台的大门，使其能够高效利用模块化测试架构的优势。
- 高分辨率示波器（NI PXIe-5108）：提供4通道和8通道版本，具备100 MHz带宽、250 MS/s采样率及14位分辨率。其高密度设计支持更快、更精准的数据采集。
- 18插槽混合式机箱（NI PXIe-1081）：系统带宽达2 GB/s，专为可扩展性设计，便于连接软件驱动的测试设备，确保高效获取关键测试数据。
- 嵌入式控制器（NI PXIe-8842/8862）：支持Windows 11™和NI Linux Real-Time™，结构简化，适用于无需GPIB接口的测试场景，提升测量效率与精度。
- 18位多功能I/O模块（NI PXIe-6381/6383）：具备行业领先的测量性能，分辨率达18位，绝对精度低至980 μV。支持16或32通道的低噪声电压测量，适配多种自动化测试场景。
基于NI PXI架构的测试系统，如NI PXIe-1081机箱、NI PXIe-8842控制器及NI PXIe-5108示波器，已在InstrumentStudio支持下实现软件驱动的混合信号测量，进一步拓展了模块化测试系统的应用边界。
作为基础模块，这些新品为工程师提供了高度模块化、可配置的系统架构，满足多样化的测试与测量需求，提升整体测试能力。
行业专家评价
艾默生测试测量业务的NI Fellow Charles Schroeder表示：“25年来，我们的模块化NI PXI平台始终通过持续创新，为客户带来前沿的测试与测量功能，并确保其在长期内获得投资回报。如今，更多测试工程师能够借助这些新设备优化流程、提升效率。”
他补充道，这些价格合理且性能强劲的NI PXI产品，不仅帮助测试工程师获取更高质量的数据，还支持他们在成本与性能之间做出更明智的平衡决策，为测试与测量行业在AI时代下的发展提供强有力支撑。
当前的NI PXI产品组合在同步性、测量密度和模块化扩展方面具备显著优势，为AI驱动的实时分析与测试优化提供了坚实基础。