集成胶体量子点光电二极管于超构表面,推动紧凑型短波红外传感器发展

2026-01-20 17:20:18
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集成胶体量子点光电二极管于超构表面,推动紧凑型短波红外传感器发展

在最近的IEEE国际电子器件会议(IEDM 2025)上,先进半导体技术研究中心imec宣布,其在300毫米CMOS试验线上成功实现了胶体量子点光电二极管(QDPD)在超构表面(metasurface)上的集成。这项技术突破为高分辨率、微型化短波红外(SWIR)光谱传感器的开发提供了一个具备可扩展性的平台,预示着经济高效成像技术的新方向。

拓展短波红外传感器的应用边界

短波红外传感器因其能够探测人眼不可见的波段而具备独特优势,适用于穿透某些材料(如塑料或织物)或在恶劣环境(如雾霾或烟雾中)实现成像。然而,传统SWIR传感器由于成本高、体积大且制造复杂,限制了其广泛应用。

近年来,量子点图像传感器作为替代方案进入研究焦点,尤其因其成本低且具备高分辨率的潜力而备受关注。但目前该类传感器仅支持宽带响应,难以满足对多光谱信息有需求的应用。

为解决这一问题,imec将胶体量子点光电二极管与超构表面集成在同一CMOS平台上。胶体量子点是一种可调谐的纳米材料,能够针对特定红外波段进行吸收;而超构表面是一种超薄的纳米结构层,可精确调控入射光与传感器之间的相互作用。通过将这两项技术整合至CMOS兼容的制造流程中,imec成功构建了一个具备可扩展性、微型化且高分辨率的SWIR光谱探测平台。

imec的研发负责人Vladimir Pejovic指出,这项技术的最大优势在于其制造过程的可扩展性。“传统方法需要为每个波段重新设计复杂的光电二极管层,这不仅复杂且成本高昂。”

“而我们的方案将复杂性转移到CMOS工艺层面上,通过超构表面实现光谱响应的调整,而不是改变光电二极管结构。这为开发高分辨率、可定制的SWIR光谱成像器奠定了基础,并有望在安防、农业、汽车、航空航天等领域释放新的功能价值。”

多领域协作推动技术落地

此次突破得益于跨学科合作,融合了imec在量子点传感、平面光学及光谱成像方面的深厚积累。下一步目标是将该技术由实验室原型推进至小批量试产,并最终实现大规模量产。为此,imec正在积极寻求合作伙伴。

产品组合经理Pawel Malinowski表示:“我们希望将这一创新转化为行业可用的技术平台,并与合作伙伴共同开发定制化图像传感器和集成器件。”

“通过整合imec在光谱传感、量子点材料及CMOS制造上的核心能力,并结合各应用领域的具体需求,我们将加快这一技术从概念验证走向实际应用的步伐。因此,我们期待与更多行业伙伴携手,共同推动传感与成像技术的演进。”

欲了解更多信息,请访问:会议专题页面

本文内容由IMEC提供。

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