国产质谱领域迎来新进展：雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪中标高校项目
在完成2025年9月飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）国产化产线启动后，雪迪龙再次传来好消息。
近日，雪迪龙研制的飞行时间二次离子质谱仪成功中标某高校质谱采购项目，将用于肽及蛋白质水解等复杂生物样品的表面成分分析。此次中标不仅体现了市场对雪迪龙技术实力的认可，也标志着其在高端科学仪器领域实现核心技术自主化方面取得重要进展。此举对于增强关键领域的供应链安全性，推动国产科学仪器自主创新具有积极意义。
SurfaceSeer S TOF-SIMS：聚焦高端材料表征
TOF-SIMS作为一种高分辨率表面分析技术，广泛应用于半导体制造、生命科学、材料研究等多个领域。其技术壁垒高、研发周期长，长期以来被国际头部厂商主导，是高端科学仪器中的典型代表。
雪迪龙表示，未来将持续加强技术革新与产学研合作，推动设备性能提升与核心部件自主可控，努力与国际先进水平接轨，为国产科学仪器的发展提供有力支撑。
国产化项目启动：跨地域协同打造高端质谱设备
2025年9月17日，雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪国产化项目在北京研发生产基地正式启动。作为国产化战略的重要节点，这一举措不仅推动了国产高端质谱仪器的发展，也为我国半导体、新能源等战略性新兴产业的关键检测设备自主化注入了新动力。
雪迪龙董事长敖小强、海外业务总经理Kim Sand、董事会秘书葛毅捷、总工程师张倩暄等管理层代表，与子公司英国Kore公司的技术专家Daniel Blenkhorn、Elizabeth Roberts，以及中国质谱团队核心成员共同出席了项目启动仪式。与会人员就后续研发方向和市场推广展开深入交流，为项目推进形成跨地域、跨团队的合作基础。
在此次项目中，雪迪龙依托子公司Kore公司在TOF-SIMS技术领域的深厚积累，结合自身在分析仪器市场的丰富经验与研发能力，联合攻克了国产化过程中的多项关键技术难题。
- 团队以“模块化设计、高性价比定位、聚焦应用场景”为核心策略，
- 重点面向半导体芯片表面污染物分析、
- 新能源材料界面成分表征、
- 材料科学微观结构解析、
- 生物医学细胞表面分子检测、
- 以及环境监测中痕量污染物溯源等应用。
通过技术创新与应用场景的深度结合，项目团队致力于解决行业中的共性难题，为国产高端科学仪器的发展探索可行路径。