在精密制造领域，检测毫米级薄金属片的在位状态是常见需求，但当目标物体是高反光银色铝片，且周围环境布满不锈钢机构时，传统传感器往往“束手无策”——
反射光干扰
信号混淆
误检漏检频发 ……
本期小明们来分享一个真实案例：某产线通过选用明治EOS-500NPI高精度CMOS传感器，成功攻克了高反光铝片的检测难题，实现零误检、高稳定性的生产监控！
应用场景
某精密设备产线需检测内部一枚银色铝制爆破片（厚度1-2mm）是否在位。
需要传感器安装于设备顶部，爆破片在垂直下方120mm处，光路需通过一个直径5mm的小孔照射目标。
核心挑战：
1. “闪瞎眼”的高反光特性：铝片表面光洁度极高，反射率超90%，与周围不锈钢机构（反射率约60%）形成强烈干扰，传统传感器易将背景误判为目标；
2. “见缝插针”的安装限制：检测光斑必须完全通过3mm小孔，普通传感器光斑过大，易被孔边缘遮挡；
3. 微小段差的敏感度：铝片厚度仅1-2mm，需传感器分辨率足够高，才能区分“在位”与“缺失”状态。
推荐选型
我们为工程师推荐了明治EOS-500NPI，这是一款基于CMOS图像传感原理的高精度检测设备
1. CMOS成像原理的优势：
这是成功的关键，传感器EOS内部有微型的CMOS像素矩阵。它并非简单地测量接收到的总光强，而是对反射回来的光斑在CMOS上的成像位置进行精确分析。
通过设定一个清晰的“光学切面”（背景抑制阈值），传感器可以极其精确地判断光斑是来自较近的目标物（金属薄片），还是来自较远的背景（不锈钢腔体）。这从根本上克服了因目标或背景反光强弱变化而导致的误触发。
2、段差检测：精准识别毫厘之差
明治EOS光电传感器可清晰捕捉铝片厚度变化。当铝片缺失时，反射光因距离增加而散射损失增大，传感器通过差分算法稳定输出“缺失”信号；
从“被反光晃瞎眼”到“精准识别毫厘之差”，EOS-500NPI用CMOS传感原理与光学设计创新，为高反光薄金属片检测提供了高效、稳定的解决方案。
3、卓越的高反光处理能力：其光学系统和算法专门针对反光表面进行了优化。即使面对镜面反射，只要能接收到足够的光信号，CMOS芯片就能通过计算光斑位置做出稳定判断，对绝对光强的依赖性较低。
4、小孔光斑穿过：
通过镜头设计，光斑直径压缩至3.5*2.5mm（@500mm距离），可轻松通过小孔，避免边缘遮挡导致的信号衰减；
5、灵活的阈值设定：
通过简单的一键示教，可以精确地将检测平面设定在120mm处的薄片位置，而将更远的不锈钢背景可靠地抑制掉，确保只有薄片本身被识别为“有物体”。
在该案例中，明治EOS-500NPI传感器凭借CMOS原理，成功解决了在强干扰环境下检测高反光金属薄片的核心难题。
它并非依赖不稳定的反射光强，而是通过精确的空间位置分析来做出判断，提供了远超传统漫反射或普通反射板式传感器的可靠性、精度和抗干扰能力，完美匹配了该工位对稳定性与精度的苛刻要求。
如果您也面临类似检测难题，欢迎和我们交流！ 我们将为您提供定制化解决方案，助力您的生产线迈向智能化升级！
志奋领是工业级光电技术和AI传感专家，国家专精特新小巨人企业；聚焦精密定位、位移测量、AI图像识别、工业智能传感以及区域安全方案，超70个国家的30000家制造商、供应商和集成商选择了我们的产品。
这里汇聚了一批业界资深的科学家和工程师，以志奋领精神重新定义“中国制造”新高度，每一次的创新都在践行感焕万物的理想，每一次的应用都是焕然新生的智造新体验。
明治之选，智造之悦。
服务支持 400-885-6656