01典型交付案例
该设备是双视角观测+高温稳定控制+高兼容性设计，使其特别适合多学科交叉研究和高温环境下微纳器件的精确电学测试。
02装机现场
应用于：
该探针台主要面向半导体、MEMS、新材料、射频微波、光电子等前沿科研领域，用于在高温环境（最高80°C） 下进行微米级精度的电学特性测试（如IV/CV、S参数、光电响应等）。
03产品设备介绍
✅产品介绍：斜视高温探针台，是双视角观测+高温稳定控制+高兼容性设计，使其特别适合多学科交叉研究和高温环境下微纳器件的精确电学测试。
✅产品优势：
1. 双视角光学观测系统
- 垂直＋斜视显微镜，告别视野盲区
- 连续光学变倍，配合高清CCD，实时图像传输记录
2. 高精度机械定位系统
- X/Y轴移动范围：100mm x 100mm
- Z轴行程10mm，精度1um
- 载物台±5°水平微调，避免因倾斜导致接触不良。
3. 集成化温控模块
- 温度范围：常温–80°C
- 水冷散热系统，确保高温下温度稳定性达±0.1℃
4. 多功能与高兼容性
- 0.35um定位精度，支持0-45°倾角调节
- 支持高频与光电测试
✅产品详细规格：
✅应用领域：
IV/CV特性、晶体管性能
光电探测器、激光器响应测试
S参数、阻抗分析