NISSHINBO日清纺微推出低边FET驱动型 单节锂电池保护IC

2026-10-17
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NB7144 系列

低边FET驱动型 单节锂电池保护IC

NB7144ZA是一款适用于单节锂离子电池/锂聚合物电池的保护IC,集成高精度过充电、过放电、过电流及短路保护功能,并可选配过温保护和低温保护功能。
本IC还支持强制待机功能,可大幅降低IC的电流消耗;同时内置强制复位功能,可同时关闭充电FET和放电FET,实现MCU的安全重启。

规格


NB7144 系列

输入电压

 VDD – VSS = 1.5 V to 5.0 V
 VDD – VVM = 0 V to 5.5 V
 (Maximum Rating: 12 V)

元件数

 1

电源电流

 Typ. 1.50 µA / Max. 3.00 µA

  (TDET: Disabled)
 Typ. 2.00 µA / Max. 4.00 µA

  (TDET: Enabled)

待机电流

 Max. 0.20 µA 

  (VDET2: Auto release Type)
 Max. 0.04 µA

  (VDET2: Non-Auto release Type)

过充电

检测电压

 3.6 V to 4.8 V (0.005 V Step)

过充电

检测电压精度

 ±10 mV

过充电检测

延迟时间

 1024 ms, 4096 ms

过放电

检测电压

 2.0 V to 3.4 V 

  (0.005 V Step)

过放电检测

电压精度

 ±35 mV

过放电检测

延迟时间

 32 ms, 64 ms, 128 ms

放电过电流

检测电压

 VDET31: 0.0050 V to 0.0800 V

 (0.0005 V Step)
 VDET32: 0.0100 V to 0.1000 V

 (0.0005 V Step)

放电过电流

检测电压精度

 VDET31:

  ±1.0 mV

  (0.0050 V to 0.0300 V), 

  ±1.5 mV 

  (0.0305 V to 0.0500 V),

  ±2.0 mV 

  (0.0505 V to 0.0800 V)


 VDET32: 

  ±2.0 mV 

   (0.0100 V to 0.0600 V),

  ±3.0 mV

   (0.0605 V to 0.1000 V)

放电过电流检测

延迟时间

 VDET31:

 8 ms, 16 ms, 32 ms, 512 ms, 1024 ms, 4096 ms


 VDET32:

 8 ms, 16 ms

充电过电流

检测电压

–0.0800 V to –0.0050 V

 (0.0005 V Step)

充电过电流

检测电压精度

 ±1.0 mV

 (–0.0050 V to –0.0300 V),

 ±1.5 mV

 (–0.0305 V to –0.0500 V),

 ±2.0 mV

 (–0.0505 V to –0.0800 V)

充电过电流检测

延迟时间

 8 ms, 16 ms

短路

检测电压

 0.0200 V to 0.2000 V

 (0.0005 V Step)

短路检测

电压精度

 ±3.0 mV

 (0.0200 V to 0.120 V),

 ±5.0 mV

 (0.1205 V to 0.200 V)

检测延迟时间短

0.28 ms, 0.53 ms, 1.1 ms, 2.1 ms

恢复过充的条件

Selectable: Auto Release1 / Auto Release2 / Latch

恢复过放电的条件

Selectable:

 Auto Release / Latch / Latch2 / Latch3(Slope)

封装

 WLCSP-8-ZA3

0 V Battery Charging

 Selectable: Permission / Inhibition


保护回路/功能

Typical Application


电话0755-82574660 82542001

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这家伙很懒,什么描述也没留下

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