在AI服务器向更高传输速率演进的背景下，光模块作为数据交换的核心器件，其底座高度直接影响光路对准精度与信号完整性。
然而，随着光模块速率提升至400G、800G，底座尺寸更小、公差更严、表面处理更复杂，传统检测方案面临以下难点：
微米级测量——传统检测难以实现
光模块底座通常仅指甲盖大小，高度要求控制在微米级。传统接触式探针采样点有限、耗时较长，难以全面评估整体高度，局部缺陷可能漏检。
高反光表面——测量易产生干扰
底座表面常需镀金或镀镍以保证导电性与可焊性。高亮反光特性使传统激光测量易出现数据缺失或飞点，难以获取真实轮廓，影响高度评价的准确性。
光子精密针对光模块底座检测场景，推出GL-8000系列3D线激光轮廓测量仪的检测解决方案：
GL-8000系列高精度3D线激光轮廓测量仪
01 高密度采点，微米级起伏
基于激光三角反射原理，每条轮廓线采集4096个数据点，Z轴重复精度最高0.3μm。可清晰检测因光模块磨损或装夹误差导致的微小起伏。
02 蓝光+HDR，抑制高反光干扰
采用405nm蓝色激光，搭配单帧及多帧HDR合成技术，兼顾高反光区域与弱反光区域，减少飞点和噪点，为镀金/镀镍底座提供更干净的轮廓数据。
03 极速全检，匹配高速产线节奏
扫描速率高达49000Hz，可实现单件检测节拍＜2秒，实时上传OK/NG结果，实现在线全检；
光模块底座高度，是高速信号稳定传输的基础。光子精密GL-8000系列3D线激光轮廓测量仪，以微米级精度与抗干扰能力，助力产线实现精密检测。
如有相关检测需求，欢迎后台咨询，深入探讨GL-8000系列如何具体赋能AI服务器光模块产线，共同打造更高质、更可靠的产品。