国产精密测量技术迈向新高度:清华、计量院与中科院专家共聚云端

2025-12-12 18:11:37
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摘要 2025年12月17-18日,第四届精密测量与先进制造网络会议即将举办,国产专场专家云集,全面展现国产精密仪器的自主创新与产业赋能、国家标准解读、技术解读等。

国产精密测量技术迈向新高度:清华、计量院与中科院专家共聚云端

2025年12月17日至18日,仪器信息网将联合中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,共同举办“第四届精密测量与先进制造网络会议”。本届会议以“从芯到翼:精密测量的尺度革命与产业赋能”为主题,聚焦半导体、航空航天以及国产精密测量仪器三大核心领域,全面探讨从技术前沿到产业应用的完整链条。

主办单位:仪器信息网

协办单位:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

参会方式:本次会议面向公众免费开放,可通过扫描二维码或点击“阅读全文”进行报名。

“国产精密测量仪器与技术发展”专场预告

本专场将汇聚清华大学、中国计量科学研究院、中科院上海光机所、中图仪器、思看科技等知名科研院所与企业专家,围绕国产精密仪器的自主创新与产业赋能、国家标准解读以及关键技术应用展开深入探讨。从高精度激光雷达、纳米计量技术、超精密尺寸测量,到白光干涉仪与三维感知系统,全面展示我国在精密测量领域由“跟跑”迈向“领跑”的技术跨越。无论是在半导体制造、航空航天装备,还是人形机器人等前沿产业中,本专场都将呈现最具落地价值的技术方案和前瞻性产业洞察。

(注:最终日程请以会议官网为准)

国产精密测量仪器与技术发展

(12月18日上午)

报告题目

演讲嘉宾

高精度激光扫频干涉测距雷达

谈宜东(清华大学精密仪器系 副系主任/教授)

人形机器人直驱关节制造过程的超精密尺寸测量方案

杨飞田(深圳市中图仪器股份有限公司 高级产品总监)

从先进制造中的台阶高度测量看我国纳米计量技术发展

施玉书(中国计量科学研究院纳米计量研究室主任/研究员)

三维感知技术赋能智能制造

王俊亮(思看科技(杭州)股份有限公司 产品与支持中心高级总监)

计量级扫描白光干涉仪及应用

苏榕(中国科学院上海光学精密机械研究所 研究员)

嘉宾简介及报告摘要(按分享顺序)

谈宜东 清华大学精密仪器系 副系主任/教授

【个人简介】谈宜东现任清华大学精密仪器系副主任,长聘教授,入选国家高层次人才计划,是教育部创新团队负责人及首批国家级杰出计量领军人才。他长期从事激光技术和精密测量领域的教学科研工作,主持国家自然科学基金、科技部、军科委等40余项国家级项目,发表SCI论文130余篇,拥有40余项授权发明专利。他还担任多个国内专业协会及国际期刊的编委。

【报告题目】高精度激光扫频干涉测距雷达

【报告摘要】扫频干涉测距雷达具有高精度、抗环境干扰能力强等优势,已成为支撑大型装备制造、环境感知及前沿科学探索的关键测量技术之一。本报告将介绍清华大学团队在提升该类雷达测距精度、速度与抗干扰能力方面取得的成果,并展示样机研发进展,推动高端国产测量装备的发展。

杨飞田 深圳市中图仪器股份有限公司 高级产品总监

【个人简介】杨飞田现任中图仪器产品总监,拥有15年精密测量仪器研发经验。他主持参与多项高精度测量设备的研制,包括指示表检定仪、光栅测长机、轮廓测量仪、三坐标测量机等。在微小测力机构、超精密导轨、环境补偿技术等方面均有深入研究,拥有20余项专利。

【报告题目】人形机器人直驱关节制造过程的超精密尺寸测量方案

【报告摘要】报告将围绕人形机器人直驱关节的制造过程,探讨其结构特点、超精密测量技术的应用,并展望该技术的市场前景及发展趋势。

施玉书 中国计量科学研究院纳米计量研究室主任/研究员

【个人简介】施玉书博士毕业于天津大学,现任中国计量科学研究院纳米计量研究室主任,参与制定多项国家标准与计量技术规范,推动我国纳米计量体系的建立。他担任多个国际和国内标准组织的委员,主持建立国家纳米计量标准装置,为微纳尺度测量提供基础支撑。

【报告题目】从先进制造中的台阶高度测量看我国纳米计量技术发展

【报告摘要】报告将系统梳理我国在台阶高度测量领域的技术演进,从基标准装置、国家标准到产业应用,展示我国在纳米计量领域的发展路径和实践成果。

王俊亮 思看科技(杭州)股份有限公司 产品与支持中心高级总监

【个人简介】王俊亮毕业于武汉大学,从事3D视觉研究18年,参与起草多项国家标准。他现任思看科技产品与支持中心高级总监,带领团队在三维视觉技术领域取得多项成果。

【报告题目】三维感知技术赋能智能制造

【报告摘要】思看科技致力于推动三维感知技术在智能制造中的应用,已成功将其技术应用于C919大飞机、中国空间站等重大项目。报告将展示该技术如何推动制造业的数字化、智能化转型。

苏榕 中国科学院上海光学精密机械研究所 研究员

【个人简介】苏榕现任中科院上海光机所研究员、博士生导师。他长期从事光学干涉与表面形貌测量技术研究,曾在英国国家物理实验室及诺丁汉大学工作,参与多项国际标准制定,出版多篇学术论文与书籍。

【报告题目】计量级扫描白光干涉仪及应用

【报告摘要】白光干涉仪在高精度表面形貌测量中具有重要作用,其测量结果的准确性直接影响高端制造的质量控制。报告将介绍中科院在该领域自主研发的扫描白光干涉仪及校准技术,并探讨其在集成电路制造、大科学装置中的应用。

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