Vicor将在亚洲电源技术发展论坛上展示高密度DC-DC电源模块如何助力提升ATE性能
在当前半导体行业快速发展的背景下，自动测试设备 (ATE) 的原始设备制造商 (OEM) 正面临前所未有的挑战。随着集成电路复杂度的增加，如何有效控制测试成本并提升测试效率成为行业焦点。ATE系统的设计不仅需要满足更高的测试速度和可靠性，还必须在成本控制方面不断优化。Vicor将展示其如何通过高密度电源模块设计，实现测试系统在有限空间内的性能最大化。
在2025年12月6日于深圳举办的亚洲电源技术发展论坛上，Vicor将带来一场题为“薄型DC-DC电源解决方案最大限度提升ATE吞吐量”的专题演讲。此次演讲将深入解析如何构建适用于全球高端ATE平台的高效电源系统，帮助设计人员在复杂系统中实现更高的功率密度与系统效率。
凭借专利技术与先进制造工艺，Vicor的模块化电源方案在尺寸、效率与可靠性方面均表现出色，能够显著提升ATE系统的测试吞吐能力。对于需要高密度、低损耗电源支持的测试应用场景，该方案提供了切实可行的优化路径。
主题：高密度 DC-DC 电源模块最大限度提升 ATE 吞吐量
日期：2025年12月6日
地点：深圳湾万丽酒店3楼A2会场
时间：11:30-12:00