应用案例丨光子精密闪测仪直面上千通孔尺寸挑战,一键筑牢3c电子PCB板品控

2026-08-12
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PCB通孔孔径公差管控是保障元器件装配、焊接可靠性与电路板成品良率的核心环节,常规通孔与高密度HDI板需±0.05mm及更小的公差标准,孔径超差易引发3C产品批量质量问题。

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常规PCB焊板的通孔数量普遍在500-600个,而DVD、数码相框等元器件密集、设计复杂的主板,通孔数量可达1000个甚至更多。

同时3C产品迭代快、型号多,设备每次换型需2-4小时调试。

海量通孔让传统检测弊端愈发凸显!

传统影像测量需逐孔对焦、测量,单板检测耗时达数十分钟,只能采用抽检模式,质量风险较高。

检测效果高度依赖人工经验,易出现人为偏差,检测标准难以统一,严重制约生产效率。

光子精密作为国内高精度精密测量仪器与传感器领域的先行者,光子精密针对PCB焊盘通孔孔径检测难题,采用QM系列闪测仪,为3c电子行业提供完善的解决方案。

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双视野双远心镜头

大视野镜头快速捕捉PCB板全部通孔后,自动切换25倍率高精度镜头捕捉细微局部。

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自研软件QMVS

可预存储多型号程序,换型时一键切换编程,快速测量并自动存储数据,支撑CPK/GRR统计分析;

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光子精密QM 系列闪测仪依靠光学、硬件、算法一体化技术,攻克PCB孔径尺寸、孔位检测难点,兼顾高精度、快速度、数据化管控,是3c电子行业提升PCB板质控水平的专业检测设备。

质量与效率提升



高精度测量

检测精度高,可实现±0.3μm测量精度,0.5μm重复精度;


大批量测量

支持5000个尺寸/1000个工件的大批量检测,数秒出结果;


快速换型

CAD一键导入,AI抓边快速编程,新品调试效率提升80%,适配多规格质检。

光子精密QM系列闪测仪适配3C电子多型号、高密度、大批量的PCB生产检测场景,检测精度与稳定性大幅提升,有效解决传统检测效率低、误差大、换型繁琐的问题,助力企业优化制程管控,降低孔径超差带来的产品质量隐患。






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