应变测试是判定结构应力分布、形变状态与运行可靠性的技术手段，主要依托电阻应变片的压阻效应来测量，将应变片贴合于被测结构表面，结构受力形变时应变片电阻值同步发生微小变化，通过电桥将电阻变化量转换为微弱电压模拟信号。
应变测试信号一般为微弱的模拟信号，易受环境电磁干扰与通道时序偏差影响，该方案推荐使用国产八通道400ksps 24位模数转换器，该芯片能pin to pin替换ADS1278，匹配多通道应变测试的场景技术需求。
该国产模数转换器使用了高阶多比特Delta-sigma调制器，将带内噪声整形后通过片上数字抽取滤波器滤除，从而获得了非常低的带内噪声功率。芯片可选择两种片内数字滤波器：高带宽FIR滤波器，有效带宽达到了奈奎斯特带宽的90.6%，同时带内纹波小于±0.005dB；低延迟SINC滤波器，可在6个周期内产生稳定的数据输出，且有更优的噪声性能。
芯片直接使用PIN脚控制，无需编译寄存器，便于开发人员使用。它使用高阶多比特Delta-sigma调制器，将带内噪声整形后通过片上数字抽取滤波器滤除，从而获得了非常低的带内噪声功率。其特性如下：
• 8通道同步采样，数据速率可达144kS/s-400kS/s
• 高带宽FIR滤波器与低延迟SINC滤波器可选
• 低功耗：HS模式：34.0mW/通道；
HR模式：20.8mW/通道；
LP模式：10.9mW/通道；
LS模式：2.7mW/通道；
• 轨到轨输入共模电平
• 共模抑制比：116dB
• 模拟电源5V；数字电源1.8V
• IO电源：1.8V~3.3V
• SPI或帧同步接口，支持菊花链模式
• ESD等级：HBM±2kV，CDM±2kV；Latch-up ±600mA
• 工作温度范围：-40°C至+85°C
注：如涉及作品版权问题，请联系删除。