接口类型:Prober接口、Handler接口(16Bin) |
测试器件种类:7大类26分类 |
测试标准:GJB128半导体分立器件试验方法 |
测试电压范围:0~±1400V/2000V |
测试电流范围:0~±40A/100A/200A/500A |
测试速度:每小时1万个(连接分选机) |
漏电流分辨率:1.5pA |
电压分辨率:1uV |
电流分辨率:1pA |
采样速率:1M/S |
接口类型:Prober接口、Handler接口(16Bin) |
控制极电压范围:0~±40V |
控制极电流范围:0~±100mA |
测试器件种类:7大类26分类 |
测试标准:符合《GJB128半导体分立器件试验方法》 |
测试电压范围:0~±1400V/2000V |
测试电流范围:0~±40A/100A/200A/500A |
测试适配器支持:支持多种测试适配器 |
测试速度:每小时1万个(连接分选机) |
漏电流分辨率:1.5pA |
电压分辨率:1uV |
电流分辨率:1pA |
采样速率:1M/S |
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