产品概述
本产品为Radwell International提供的丹纳赫（Danaher）控制系列线性测量设备，型号为113719-0256。该设备采用光学线性测量原理，专为高精度位移与长度检测设计，广泛应用于精密秤具、天平系统及工业自动化设备中。产品具备94毫米的有效测量行程，分辨率高达12.5 cpmm，能够实时、稳定地输出线性位置信号，满足严苛的工业计量需求。
核心特点/优势
- 高精度线性测量：12.5 cpmm的分辨率确保微小位移的精准捕捉，适用于高精度秤与天平系统。
- 丹纳赫（Danaher）控制技术：依托丹纳赫成熟的控制算法与硬件架构，保障信号输出的稳定性与抗干扰能力。
- 全新盈余品质：产品为从未使用过的盈余库存，性能等同于新品，提供2年RADWELL官方保修，使用无忧。
- 紧凑线性设计：94毫米标准行程适配多种紧凑型设备空间，安装便捷，兼容性强。
应用领域
- 精密秤具与天平系统
- 工业自动化与数控机床位移检测
- 半导体制造与精密仪器校准
- 医疗设备与实验室分析仪器
选型指南/使用建议
建议在实际应用中确认安装空间是否满足94毫米行程要求，并匹配相应的信号处理接口。产品为全新盈余状态，存储时请置于干燥、无尘环境中，避免强光直射与剧烈震动。安装时注意保持光栅尺与读数头的平行度，以确保测量精度。如需定制接口或延长线缆，请联系技术支持确认兼容性。
113719-0256 光学线性编码器选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 产品型号 | 113719-0256 | |
| 产品状态 | 从未使用过盈余 | |
| 保修期限 | 2年RADWELL保修 | |
| 分辨率 | 12.5 cpmm | |
| 控制方式 | Danaher控制 | |
| 测量原理 | 光学线性 | |
| 测量行程 | 94毫米 |
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