武汉普赛斯仪表 A400 半导体测试设备

A400型数据采集卡

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2025-12-02 16:28:48
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产品概述

A400型数据采集卡是一款由武汉普赛斯仪表自主设计开发的插卡式高精度数据采集设备。该采集卡采用高性能ADC芯片,具备16位分辨率,最高支持2MS/s的采样率,单卡支持4个通道,通道间实现电气隔离。产品适用于我司3插卡或10插卡主机,单主机最高可支持40通道。A400采集卡具备采样速度快、分辨率高、通道隔离性强等特点,广泛应用于功率半导体功率循环、可靠性测试及其他工业场景的数据采集。

核心特点/优势

  • 插卡式设计,4通道/插卡,最高支持40通道
  • 通道间电气隔离,耐压>500V,保障系统安全
  • 16位高精度ADC,支持多电压量程输入
  • 最高采样率可达2MS/s,支持可配置采样频率
  • 单卡存储深度达128MB,支持大容量数据存储
  • 支持软件触发和外部IO触发,灵活适应多种测试需求
  • 兼容性强,支持Labview、C/C++等多种开发平台

应用领域

  • 功率半导体功率循环测试
  • 半导体器件可靠性测试
  • 工业自动化与过程控制中的数据采集

选型指南/使用建议

建议根据测试通道数量选择合适的插卡数量,单主机最多支持40通道。使用时需确保工作环境温度在0~50℃之间,储存温度范围为-20~80℃。采集卡支持多种通信方式(RS-232 / GPIB / LAN),可根据系统集成需求进行配置。建议在高精度测试场景中选择合适的电压量程,以确保测量精度。

A400 半导体测试设备选型参数

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更多规格
ADC分辨率 16bits
主机箱输入电源 AC: 100~240V, 50/60HZ,最大功率1000W
主机箱通信 RS-232 / GPIB / LAN
储存温度 -20~80℃
单卡存储深度 128MB
单卡通道数 4
工作温度 0~50℃
最高采样率 2MS/s
触发方式 支持软件触发,外部IO触发
输入信号带宽 500KHz
输入电压量程 ±0.625V、±1.25V、±2.5V、±5V、±10V、±12V
输入阻抗 1GΩ
通道隔离 支持,隔离耐压>500V
采样频率 可配置

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