产品概述
普赛斯S300B源表是一款专为芯片电性能测试设计的高性能数字源表(SMU),支持恒压源、恒流源、电压表、电流表及电子负载等多种功能,具备四象限工作能力。该设备可实现FIMV(加电流测电压)和FVMI(加电压测电流)测试模式,适用于芯片的开短路测试、漏电流测试及DC参数测试。
核心特点/优势
- 集成多种功能于单一设备,简化测试系统搭建,提升测试效率
- 支持多通道并行测试,最高可扩展至40通道,满足规模化测试需求
- 背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,实现高速同步测试
- 支持开短路测试、漏电流测试及DC参数测试,覆盖芯片测试核心需求
- 具备高通道密度、强同步触发能力及多设备组合效率高的特点
应用领域
- 芯片开短路测试(Open/Short Test)
- 漏电流测试(Leakage Test)
- DC参数测试(DC Parameters Test)
- 多通道并行电性能测试
- 芯片生产测试与老化测试
选型指南/使用建议
建议根据测试通道数量、测试速度及同步需求选择合适的插卡数量与主机配置。设备适用于实验室、生产线及自动化测试环境,需确保测试环境具备良好的接地与电磁屏蔽条件。建议搭配普赛斯CS系列多通道插卡式数字源表平台使用,以实现高效、精确的测试。
武汉普赛斯S300B源表 仪表选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 同步触发能力 | 支持多通道同步触发 | |
| 扩展能力 | 支持多卡组合扩展 | |
| 支持功能 | 恒压源、恒流源、电压表、电流表、电子负载 | |
| 支持测试模式 | FIMV(加电流测电压)、FVMI(加电压测电流) | |
| 测试类型 | 开短路测试、漏电流测试、DC参数测试 | |
| 结构形式 | 10插卡/3插卡结构 | |
| 背板总线带宽 | 3Gbps | |
| 触发总线数量 | 16路 | |
| 通道数 | 最高40通道 |
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