产品概述
普赛斯S200B型号仪表是一款国产数字源表(SMU),专为芯片电性能测试设计。该仪表集成了恒压源、恒流源、电压表、电流表和电子负载等多种功能,支持四象限操作,可实现FIMV(加电流测电压)和FVMI(加电压测电流)测试模式,广泛应用于芯片的开短路测试、漏电流测试及DC参数测试。
核心特点/优势
- 集成多种功能,简化测试系统配置,减少设备数量和连接复杂度
- 支持多通道并行测试,最高可扩展至40通道,提升测试效率
- 背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,实现高速同步通信
- 具备高通道密度和强同步触发功能,适用于大规模芯片测试需求
- 支持开短路测试、漏电流测试和DC参数测试,满足芯片生产与老化测试要求
应用领域
- 芯片电性能测试
- 多通道并行测试
- 开短路测试(Open-Short Test)
- 漏电流测试(Leakage Test)
- DC参数测试(DC Parameters Test)
- 芯片生产测试
- 芯片老化测试
选型指南/使用建议
建议根据测试通道数量、测试速度和同步需求选择合适的插卡式配置。适用于需要高精度、高效率、多通道测试的芯片测试场景。测试环境应保持稳定,避免电磁干扰,确保测试数据的准确性。
国产S200B型号 仪表选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 同步触发功能 | 支持 | |
| 四象限功能 | 支持 | |
| 支持功能 | 恒压源、恒流源、电压表、电流表、电子负载 | |
| 测试模式 | FIMV(加电流测电压)、FVMI(加电压测电流) | |
| 测试类型 | 开短路测试、漏电流测试、DC参数测试 | |
| 背板总线带宽 | 3Gbps | |
| 触发总线数量 | 16路 | |
| 通道数 | 最高40通道 |
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