产品概述
在半导体材料和器件的研究中，电性能测试是必不可少的环节。随着半导体技术的提升，微电子工艺逐渐复杂，如何对微电子材料器件进行高效率测试成为业内关注的重点。普赛斯仪表陆续推出多型号国产化数字源表SMU，为进一步打通测试融合壁垒，打造闭环解决方案，通过对半导体高端测试装备上下游产业链的垂直整合，晶圆级微电子材料器件测试系统应运而生！普赛斯数字源表SMU是整个测试系统的核心部分，用户可以根据材料器件不同的电流、电压，配置不同规格参数的源表和探针台。
核心特点/优势
- 更高效：灵活测试，体积小巧，节省实验台空间
- 接线简单，无需繁杂的同步触发操作
- 适应多种测量模式，如四探针、三同轴等
- 更可靠：广泛应用，可完成晶圆、芯片、微小电子器件的测试
- 国产化高精度数字源表+探针台测试系统，提供全方位测试支持
应用领域
- 半导体材料测试
- 微电子器件测试
- 高校实验教学
- IV性能分析
选型指南/使用建议
用户可根据材料器件不同的电流、电压，配置不同规格参数的源表和探针台。建议在实验环境中使用，确保测试精度和稳定性。
普赛斯S300B 仪表选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 体积特性 | 体积小巧 | |
| 接线方式 | 接线简单 | |
| 测试功能 | 电流、电压、电性能测试 | |
| 测试对象 | 晶圆、芯片、微小电子器件 | |
| 测试效率 | 高效率 | |
| 测试系统核心 | 数字源表SMU | |
| 测量模式 | 四探针、三同轴 | |
| 系统兼容性 | 支持多种探针台配置 |
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