武汉普赛斯仪表 普赛斯CTMS-1000A 半导体测试设备

传感器性能测试台霍尔延时响应测试

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2025-12-03 10:22:22
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产品概述

武汉普赛斯仪表推出的CTMS-1000A传感器性能测试台,是专为霍尔延时响应测试设计的先进半导体测试设备。该系统集多种测量和分析功能于一体,可精准测量各种电流传感器(如霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门等)的静态与动态参数。单台设备最大输出可达1000A,具备超快300A/μs的上升沿速度,支持KHz级带宽测试,适用于零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间等参数的自动化测量。

核心特点/优势

  • 最大输出电流达1000A,满足大电流测试需求
  • 上升沿速度高达300A/μs,实现高精度延时与响应时间测量
  • 支持数字万用表、示波器集成,提升测试效率与精度
  • 可集成温箱,实现动静态参数一体化测试
  • 支持定制穿心式、连接式等多种夹具,适配不同传感器类型
  • 测量精度达0.1%,确保测试结果的可靠性
  • 支持开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门等多种传感器的测试

应用领域

  • 高校研究所
  • 实验室
  • 新能源
  • 光伏
  • 风电
  • 轨道交通
  • 变频器

普赛斯CTMS-1000A 半导体测试设备选型参数

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上升沿速度 300A/μs
可集成环境 温箱
可集成设备 数字万用表、示波器
夹具类型 穿心式、连接式
最大输出电流 1000A
测试功能 静态参数、动态参数、阶跃响应时间、交流带宽、噪声频谱、线性度、温度漂移曲线
测量精度 0.1%
适用传感器类型 开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门电流传感器

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