产品概述
武汉普赛斯仪表S系列数字源表是专为纳米材料电性能测试设计的高精度测试仪表。纳米材料因其粒径在1-100纳米之间,具有比表面积大、表面原子比例高等特点,广泛应用于电学、热力学及催化等领域。然而,其测试面临信号微弱、外部噪声干扰大、测试方式多样等挑战。S系列源表通过高精度测量、多通道测试、多种测试模式支持,为纳米材料的电性能表征提供了完整的解决方案。
核心特点/优势
- 支持nA至pA级微弱信号检测,满足纳米材料测试需求
- 具备恒压、恒流、脉冲等多种输出模式,适应不同测试场景
- 支持Trig触发功能,实现多台仪表联动测试
- 采用四线制、三同轴Guard方式,有效屏蔽外部噪声干扰
- 支持多通道测试,适用于三端纳米器件及多样品测试
- 高精度数字源表,适用于纳米温差器件、水伏发电材料、有机晶体管器件等测试
应用领域
- 纳米温差器件的输出电压与电流测试
- 纳米水伏发电材料的I-t与V-t曲线测试
- 纳米有机晶体管器件的输出特性与转移特性曲线测试
- 纳米材料在光、热、湿度等激励下的响应测试
- 传感器、半导体器件等产品的研发与生产测试
选型指南/使用建议
建议根据测试样品的类型和测试需求选择S系列或CS系列源表。测试系统应包括数字源表、温度控制器、待测器件、测试连接线及上位机软件。测试过程中需注意外部噪声干扰,建议采用四线制或三同轴Guard方式以提高测试精度。测试环境应保持稳定,避免温度、湿度等外部因素对测试结果的影响。
普赛斯仪表S系列 仪表选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 微弱信号检测能力 | 强 | |
| 支持测试功能 | 开路电压测试、输出电流测试、I-t曲线测试、V-t曲线测试、输出特性曲线测试、转移特性曲线测试 | |
| 支持触发功能 | Trig触发,多台仪表联动 | |
| 测试信号范围 | nA至pA级 | |
| 测试方式 | 恒压测试、I-V扫描测试、V-t测试、脉冲测试、多通道测试 | |
| 测试精度 | 高精度 | |
| 测试系统组成 | 数字源表、温度控制器、待测器件、测试连接线、上位机软件 | |
| 测试连接方式 | 二线制、四线制、三同轴Guard方式 | |
| 适用器件类型 | 纳米温差器件、纳米水伏发电材料、纳米有机晶体管器件 |
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