产品概述
武汉普赛斯仪表S型S300仪表是一款高精度数字源表,专为四探针法测量半导体材料的电阻率而设计。该仪表支持四线开尔文模式,能够输出可控范围的电流并测量微伏级电压,适用于薄而平的材料或涂层的电阻率测试。通过上位机软件指导测试步骤,内置电阻率计算公式,可直接读取测试结果并进行后续分析。
核心特点/优势
- 支持四线开尔文模式,减少引线电阻影响,提高测量精度
- 输出电流范围宽,从皮安级到安培级,满足多种测试需求
- 测量电压分辨率高达微伏级,确保高精度测量
- 内置电阻率计算公式,简化测试流程,提升测试效率
- 支持多种连接方式,包括前面板香蕉头和后面板三同轴接口
- 上位机软件操作简便,适合不同经验水平的工程师使用
应用领域
- 半导体材料的电阻率测试
- 薄膜材料的电阻率测试
- 涂层材料的电阻率测试
选型指南/使用建议
建议在2线模式下进行电路的搭建和拆除,禁止在4线模式下插拔。测试时需根据样品厚度和探针间距查询修正系数K值,以确保测量结果的准确性。适用于实验室、半导体制造、材料研究等场景。
S型S300 仪表选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 内置功能 | 电阻率计算公式 | |
| 支持模式 | 四线开尔文模式 | |
| 测量功能 | 电流源模式、电压测量 | |
| 测量电压分辨率 | 微伏级 | |
| 输出电流范围 | 皮安级到安培级 | |
| 连接方式 | 前面板香蕉头、后面板三同轴接口 |
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