数字输出接口:RS422、RS485 |
测量原理:非接触式激光测量 |
测量方式:光学三角测量 |
输出功率选项:小于1mW、小于20mW、小于80mW |
量程中点:45mm、310mm、355mm、375mm、440mm、745mm |
分辨率:0.01% |
测量方式:非接触式 |
测量范围:2.5米 |
线性度:0.05% |
线缆方式:直接出线方式、带接头方式 |
线缆长度:可定制 |
输出信号类型:4~20 mA,0~10V |
逻辑输出功能:支持超量程报警、多传感器内同步 |
分辨率:0.01% |
工作温度范围:-10°C 至 +60°C |
测量范围:10mm, 25mm, 50mm, 100mm, 250mm, 500mm |
测量频率:最高9400Hz |
激光类型:红色半导体激光、蓝光/UV半导体激光 |
线性度:±0.05% |
防护等级:IP67 |
供电方式:USB供电 |
分辨率:0.01mm |
外形尺寸:48x40x19.5mm |
数据传输方式:USB |
测量范围:50-450mm |
测量频率:1kHz |
线性度:±0.04mm |
重量:55g(不含电缆) |
分辨率:0.001mm(短距离), 0.005mm(长距离) |
存储温度范围:-20°C ~ +70°C |
工作温度范围:0°C ~ +45°C |
更新频率:2kHz |
测量范围:0~100mm |
温度稳定性:±0.03% FS/°C |
防护等级:IEC IP65 |
分辨率:0.01mm |
更新频率:10kHz |
测量范围:0~750mm |
线性度:±0.015mm |
输出方式:模拟输出、数字输出 |
防护等级:IP65 |
分辨率:0.01mm |
更新频率:1kHz |
测量范围:0-2000mm |
温度稳定性:±0.03% FS/°C |
线性度:±0.03mm |
输出接口:模拟输出(4-20mA或1-9V),数字输出(RS232或RS422) |
防护等级:IEC IP65 |
响应时间:5毫秒 |
工作温度范围:-40°C~+85°C |
测量原理:光学三角测量 |
测量方式:非接触式 |
测量精度:优于0.08% |
测量范围:0~10米 |
被测物表面温度上限:1300°C |
工作温度范围:0°C至+40°C |
测量分辨率:7.6纳米 |
测量原理:光学三角法 |
相对湿度范围:95%(无冷凝) |
线性度:±0.01%FS |
采样频率:40KHz |
防护等级:IP67 |
X轴宽度范围:11mm至500mm(根据型号) |
X轴线性度:±0.2% of the range |
Z轴线性度:±0.01% of the range |
Z轴量程范围:10mm至1000mm(14个标准量程可选) |
工作温度范围:-40°C至+120°C |
扫描速度(ROI模式):16000轮廓/秒 |
扫描速度(全量程模式):不低于4000轮廓/秒 |
接口类型:以太网接口 |
设置方式:Web界面设置 |
防护等级:IP67 |
X轴分辨率:2000点/轮廓 |
Z轴分辨率:0.03mm 至 0.8mm |
响应速度:每秒2000至6000次 |
工作模式:非接触式 |
测量方式:三角测量法 |
测量范围:1000mm x 500mm |
环境适应性:高温、高亮度环境 |
适用材料:几乎所有材料表面 |
采样频率:2000Hz 或 6000Hz |
X轴分辨率:1280点或2560点 |
Z轴线性度:±0.01% |
Z轴量程:25mm至1000mm |
扫描速度(ROI模式):16000轮廓/秒 |
扫描速度(全量程模式):≥1000轮廓/秒 |
抗冲击性:支持高强度工业环境 |
抗振性:支持高强度工业环境 |
防护等级:IP67 |
X轴分辨率:2912点 |
Z轴测量范围:25mm至200mm |
Z轴线性度:±0.01% |
抗冲击性:支持 |
抗振性:支持 |
最大采样率:4600剖面/秒(ROI模式) |
防护等级:IP67 |
ROI模式扫描频率:16000Hz |
X轴分辨率:2912个点 |
Z轴精度:5μm |
基本模式扫描频率:484Hz |
线性度:0.01% |
防护等级:IP67 |
高速模式扫描频率:921Hz |
X轴线性度:±0.2% |
Z轴线性度:±0.01% |
传感器类型:二维激光线扫传感器 |
扫描速度(ROI模式):16000轮廓/秒 |
扫描速度(全量程模式):4000轮廓/秒 |
数据接口:千兆以太网, RS422 |
测量方式:非接触式激光扫描 |
防护等级:IP67 |
分辨率:纳米级 |
工作温度范围:接近绝对零度 |
总精度:±0.5% |
测量方式:非接触式 |
输出电压灵敏度调节范围:0到10倍 |
适用环境:低温环境 |
分辨率:亚纳米 |
工作频率:最大10 kHz |
测量方式:非接触式 |
测量范围:±5μm至2mm |
温度稳定性:出色 |
驱动电路:专利PhaseLock™探头驱动电路 |
工作频率:35.5 ±0.1 GHz(Ka频带) |
更新周期:0.01秒 |
检测距离:300米 |
测量精度:±0.34%(1英里/小时) |
测量范围:0.8 km/h ~ 480 km/h |
重量:230克 |
信号更新率:20 Hz |
工作温度范围:-40°C 至 +70°C |
电流消耗:< 200 mA |
速度测量范围:0.8 km/h 至 200 km/h |
防护等级:IP6KX、IPX7、IPX9K |
工作温度范围:-20℃ 至 +70℃ |
工作电压:9-16V |
最大功耗:400mA |
测量精度:0.1米/秒 |
测量范围:0.5km/h 至 200km/h 以上 |
输出信号类型:脉冲信号(符合DIN 9684/ISO 11786标准), RS232串行输出 |
信号输出:5,000 脉冲/米 |
测量方式:非接触式 |
测量范围:0.01-20.0 km/h |
系统精度:0.1% F.R. |
适用方向:X 和 Y 方向 |
频率更新率:10 Hz |
无线功能:2.4G WiFi |
校准方式:工厂校准 |
测量原理:激光多普勒测量原理 |
测量周期:20微秒 |
测量精度:优于0.05% |
测量频率:200kHz |
通信接口:以太网、RS-232、CANbus |
速度测量范围:0 ~ 10,000 m/min(0 ~ 32,808 ft/min) |
重复性:0.02% |
操作方式:自动化测量 |
数据输出格式:多种格式支持 |
最小分辨率:0.1微米 |
测量精度:±1微米 |
测量范围:广泛(适应不同尺寸工件) |
分辨率:1nm |
最大可测厚度:17078μm |
最小可测厚度:5μm |
测量原理:光谱共焦技术 |
测量方式:非接触式 |
测量量程范围:±55μm 到 ±5000μm |
线性精度:±0.01μm |
适用材料:陶瓷、金属、玻璃 |
采样频率:33000Hz |
防护等级:IP65(部分型号) |
支持测量参数:内径、圆度、平行度、锥度 |
数据采集速度:3秒内采集32,000个表面点 |
最小可测内径:4mm |
测量方式:非接触式 |
测量精度:微米级 |
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