产品概述
武汉普赛斯仪表S系列数字源表(SMU)是一款专为纳米材料电性能测试设计的高精度测试仪表。该产品可作为独立的电压源或电流源,支持恒压、恒流、脉冲信号输出,并具备电压、电流测量功能。适用于纳米材料在不同激励条件下的电学特性测试,如温差器件、水伏发电材料、有机晶体管器件等。通过支持Trig触发和多通道测试配置,可实现复杂测试场景下的多台仪表联动工作。
核心特点/优势
- 具备高精度微弱信号检测能力,可测量nA至pA级电流信号。
- 支持多种测试方式,包括恒压测试、I-V扫描测试、V-t测试、脉冲测试和多通道测试。
- 采用四线制测试和三同轴Guard方式,有效屏蔽外部噪声干扰。
- 支持Trig触发功能,实现多台仪表联动工作。
- 适用于纳米材料、传感器、半导体器件等复杂测试场景。
应用领域
- 纳米材料电性能测试,包括纳米发电材料、纳米温差材料、纳米传感器等。
- 纳米温差器件在不同温度激励下的输出电压和电流测试。
- 纳米水伏发电材料的输出电压和电流随时间变化的测试。
- 纳米有机晶体管器件的输出特性曲线和转移特性曲线测试。
- 传感器和半导体器件的电性能测试。
选型指南/使用建议
根据测试需求选择S系列或CS系列插卡式多通道源表。建议采用四线制测试和三同轴Guard方式以降低线损和漏电流。测试环境应具备良好的屏蔽条件,以减少外部噪声干扰。推荐搭配上位机软件进行数据采集和分析。
普赛斯S300 仪表选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 信号输出类型 | 恒压、恒流、脉冲信号 | |
| 支持功能 | Trig触发、多台仪表联动工作 | |
| 测试方式 | 恒压测试、I-V扫描测试、V-t测试、脉冲测试、多通道测试 | |
| 测试精度 | 高精度 | |
| 测量范围 | nA 至 pA | |
| 连接方式 | 四线制测试、三同轴Guard方式 |
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