产品概述
Mettler-Toledo 梅特勒托利多 M one 实验室天平是一款高精度的实验室/分析天平，适用于国家计量研究所等机构在真空质量测定中使用。该天平基于Windows®系统，配备M_控制软件，支持在从常压到10-6毫巴的真空环境中进行质量测量，测量精度高达10纳克。适用于测定重量、手工艺品和硅球的质量，提供快速装载门或装载锁系统，便于操作。
核心特点/优势
- 测量精度高达10纳克，适用于高精度质量测定
- 支持在10-6毫巴真空环境下工作，满足特殊环境需求
- 基于Windows®的M_控制软件，操作便捷，全程支持
- 提供快速装载门或装载锁系统，提升操作效率
- 适用于1公斤和10公斤质量范围，满足多种测量需求
应用领域
- 国家计量研究所利用真空质量测定中的参考标准
- 评估各种手工制品和结果的质量
- 测定硅球质量
- 适用于从常压到10-6毫巴的真空环境
选型指南/使用建议
建议在受控环境中使用，确保环境压力稳定在10-6毫巴以下。适用于需要高精度质量测量的实验室和认证机构。使用时应通过快速装载门或装载锁系统进行样品装载，以确保测量精度和操作安全。
M one 实验室天平选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 容量 | 1002 g (35.33 oz) | |
| Interface | Serial | |
| Product Category | Laboratory Balances | |
| 分辨率 | 0.0000 g (0.000000 oz) | |
| Specifications | undefined | |
| Type | Laboratory / Analytical Balance | |
| 产品类型 | 实验室/分析天平 | |
| 分辨率 | 0.0000 g (0.000000 oz) | |
| 工作环境压力范围 | 10-6毫巴 (真空) | |
| 接口类型 | 串口 (Serial) | |
| 最大称量质量 | 10公斤 | |
| 测量精度 | 10纳克 | |
| 秤量 | 1002 g (35.33 oz) |
产品替代
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