产品概述
梅特勒托利多 M 10 实验室天平是一款高精度的实验室/分析天平，适用于国家计量研究所等机构在真空质量测定中使用。该天平基于Windows®的M_控制软件，提供高达10纳克的测量精度，适用于多种手工制品和结果的评估。其独特的灵活性设计支持在从常压到10-6毫巴真空环境下的质量测定，适用于1公斤和10公斤的测量需求。
核心特点/优势
- 测量精度高达10纳克，满足高精度质量测定需求。
- 支持从常压到10-6毫巴真空环境下的质量测定。
- 提供快速装载门或装载锁系统，便于样品装载。
- 基于Windows®的M_控制软件，操作便捷，支持全过程数据管理。
应用领域
- 国家计量研究所利用真空质量测定中的参考标准。
- 评估各种手工制品和结果的质量。
- 测定硅球的质量。
选型指南/使用建议
建议在受控环境中使用，确保环境压力稳定。适用于需要高精度质量测定的实验室和认证机构。使用时应遵循标准操作流程，以确保测量结果的准确性和可重复性。
M 10 实验室天平选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 容量 | 10011 g (353 oz) | |
| Interface | Serial | |
| Product Category | Laboratory Balances | |
| 分辨率 | 0.0000 g (0.000000 oz) | |
| Specifications | undefined | |
| Type | Laboratory / Analytical Balance | |
| 分辨率 | 0.0000 g (0.000000 oz) | |
| 接口 | Serial | |
| 秤量 | 10011 g (353 oz) |
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