产品概述
Mettler-Toledo XP204S 实验室天平是一款高精度的分析天平，适用于受监管的实验室环境。该天平具备0.0001 g的分辨率，最大称量为210 g，适用于对精度要求极高的实验和检测任务。其触摸屏显示和内置质量管理工具，为多达8个用户提供了安全、高效的称量体验。
核心特点/优势
- 卓越的精度和稳定性，分辨率达0.0001 g，适用于精密实验。
- 触摸屏操作界面，直观易用，提升工作效率。
- 内置质量管理工具，支持多用户权限管理，确保数据安全。
- 颜色警告功能，当超出公差范围时自动提示，防止误操作。
- 支持免提操作和蓝牙无线数据传输，提高操作安全性，尤其适用于有毒物质称量。
应用领域
- 实验室分析：用于化学、生物、医药等领域的样品称量。
- 质量控制：在生产过程中进行高精度称量，确保产品质量。
- 半导体材料检测：用于半导体制造过程中的材料称量和质量控制。
- 科研与教学：适用于高校和研究机构的实验教学和科研工作。
XP204S 实验室天平选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 容量 | 210 g (7.41 oz) | |
| 数据接口 | Serial; USB | |
| Display | Digital Display | |
| 显示方式 | Digital Display | |
| Interface | Serial; USB | |
| Product Category | Laboratory Balances | |
| 分辨率 | 0.0001 g (0.000004 oz) | |
| Specifications | undefined | |
| 类型 | Laboratory / Analytical Balance | |
| Width / Diameter | 90 mm (3.54 inch) | |
| 产品类别 | Laboratory Balances | |
| 宽度/直径 | 90 mm (3.54 inch) | |
| 最大称量 | 210 g (7.41 oz) |
产品替代
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