Anritsu MS2720T 频谱分析仪

出售 Anritsu MS2720T 频谱分析仪

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2026-11-06 21:00:03
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  • MS2720T

  • 半导体封测

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Anritsu MS2720T Spectrum Master 是一款高性能手持式频谱分析仪,代表了公司在便携式测试设备领域的最新技术成就。该仪器提供从 9 kHz 到 43 GHz 的超宽频率覆盖范围,内置宽带前置放大器,显著提升了整体灵敏度。MS2720T 专为满足现代通信标准(如 LTE、CDMA、W-CDMA 等)的严苛测试需求而设计,具备快速扫描、高精度测量和强大的干扰分析能力,是研发、生产测试及现场维护的理想工具。

核心特点/优势

  • 超宽频率覆盖与高灵敏度:频率范围高达 43 GHz,配合宽带前置放大器,灵敏度提升约 17 dB,确保在高频段也能获得优异的测量性能。
  • 极速扫描性能:采用三种优化的扫描模式,扫描速度比前代产品快 100 倍,大幅缩短测试时间,提高生产效率。
  • 卓越的动态范围与噪声性能:动态范围大于 106 dB(1 Hz RBW),本底噪声低至 –164 dBm,相位噪声为 –112 dBc/Hz,能够清晰捕捉微弱信号并区分邻近信道。
  • 先进的干扰分析功能:提供光谱图、信号强度、RSSI 和映射功能,帮助用户快速定位和解决复杂的电磁干扰问题。
  • 优化的用户界面:强化的触摸屏 GUI 支持多种显示选项(常规、黑白、夜晚视图、彩色、高对比度),并配备较大的标记显示,便于在各种光照条件下清晰读取数据。
  • 灵活的触发与零跨距模式:提供滞后、阻止和延迟等多种触发选择,并增强零跨距功能(支持 10 MHz RBW & VBW),适用于调制分析和信号解调。

应用领域

  • 3G 和 4G 通信标准(LTE FDD/TDD, CDMA, W-CDMA, WiMAX, GSM, TD-SCDMA)的发射机测试
  • 半导体封测过程中的射频性能验证
  • 无线通信设备的研发与调试
  • 现场信号监测与干扰排查
  • 电磁兼容性(EMC)预一致性测试

选型指南/使用建议

建议根据具体的测试频率需求选择相应的频率扩展选件(9 GHz, 13 GHz, 20 GHz, 32 GHz, 43 GHz)。对于需要高精度调制分析的 LTE 应用,建议启用高达 20 MHz 的 LTE 测量选件并确认支持载波聚合功能。在使用零跨距模式进行信号分析时,注意中间频率设置为 140 MHz 时可获得 30 MHz 的中频输出。为确保最佳性能,请定期校准仪器,并根据环境光照选择合适的显示模式。            

MS2720T 半导体封测选型参数

规格项 参数值 勾选搜索替代
更多规格
中频输出 30 MHz(中间频率为 140 MHz 时)
分辨率带宽 (RBW) 1 Hz ~ 10 MHz
前置放大器 宽带前置放大器(灵敏度提高约 17 dB)
动态范围 > 106 dB(1 Hz RBW,频率为 2.4 GHz)
扫描模式 三种扫描模式(速度比原先快100倍)
支持标准 LTE(FDD & TDD)、CDMA、W-CDMA、WiMAX、GSM、TD-SCDMA
本底噪声 (DANL) –164 dBm(1 Hz RBW,频率为 1 GHz)
测量功能 占用的带宽、信道功率、ACPR、C/I、发射波罩、杂散发射、场强
相位噪声 – 112 dBc/Hz(10 kHz 偏差,频率为 1 GHz)
触发选择 滞后、阻止和延迟
零跨距功能 10 MHz RBW & VBW
频率范围 9 kHz ~ 43 GHz

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