Omron Automation and Safety ZW-S40 2M 光电-工业

产品概述

ZW-S40 2M 是一款高精度光学三角测量位移传感器，采用方形直插式光纤头设计，需配合 ZW-5000T 控制器使用。该产品具备 0.25 μm 的静态分辨率和 ±6 mm 的测量范围，适用于微小位移、高度及透明物体厚度的精密测量。支持 EtherCAT 工业以太网通信，可无缝集成至各类自动化控制系统。

核心特点/优势

• 高精度测量：静态分辨率达 0.25 μm，线性度优异，满足微米级精密检测需求。
• 灵活的光纤配置：标配 2 m 柔性耐弯曲光纤，最小弯曲半径仅 20 mm，适应复杂安装空间。
• 强大的通信与输出：支持 EtherCAT 协议，提供 NPN/PNP 数字输出及 4-20 mA / -10~10 V 模拟量输出，兼容主流 PLC 与工控系统。
• 智能滤波与多任务处理：内置中值/平均/微分等多种滤波算法，支持最多 32 个判定库及多任务并行处理，提升检测稳定性与效率。
• 环境适应性强：抗环境光干扰（10,000 lx 以下），防护等级 IP40，工作温度 0~50°C，满足工业现场要求。

应用领域

• 精密机械加工与尺寸检测
• 电子元器件与半导体封装测量
• 显示面板与玻璃厚度检测
• 自动化生产线上的位置监控与间隙测量

选型指南/使用建议

请根据实际测量中心距（40 mm）和测量范围（±6 mm）选择对应型号，本款为 ZW-SQ5040 2M。控制器需搭配 ZW-5000T 使用，若需更长传输距离可选配 ZW-XF50 系列延长光纤（5 m 及以上需控制器固件 2.100 以上版本）。EtherCAT 通信建议使用 Cat.5 及以上双屏蔽网线，确保信号稳定。安装时请确保目标表面材质符合标准/镜面/粗糙面设定，并避免强环境光直射测量区域。建议配合 Sysmac Studio 软件进行参数配置、调试与数据记录，提升系统集成效率。