产品概述
KEYSIGHT E4440A PSA 系列频谱分析仪是一款高性能的频谱分析设备，适用于测量高达26.5 GHz的RF及微波信号。该设备具备高精度、高动态范围和快速测量能力，广泛应用于无线通信、电磁兼容测试和复杂信号分析等领域。
核心特点/优势
- ±0.24 dB的绝对幅度精度，确保测量结果的高准确性。
- 显示平均噪声电平（DANL）低至-155 dBm/Hz，适用于低电平信号检测。
- 相位噪声为-118 dBc/Hz（10 kHz偏置），提供高信号纯度。
- 支持40 MHz或80 MHz分析带宽，适用于复杂信号的捕获和测量。
- 81 dB W-CDMA ACLR动态范围，满足高动态范围测量需求。
- 内置CISPR和MIL标准预兼容EMI检波器，支持EMI测量。
- 支持20多种无线制式的功率测量，提供一键式操作。
- 测量更新率高达50测量/秒（本地）和45测量/秒（远程），提升测试效率。
应用领域
- 无线通信系统测试与验证
- 电磁兼容（EMI）测试
- 微波信号分析与调试
- 高精度频谱测量与信号分析
选型指南/使用建议
建议根据具体测试需求选择是否配置内置前置放大器（选项1DS或110）以及40 MHz或80 MHz带宽数字转换器。设备支持外混频扩展至325 GHz频率范围，适用于更高频段的测试需求。使用时应确保良好的电磁环境，避免干扰信号影响测量精度。
E4440A- 半导体封测选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 三阶互调（TOI） | +17 dBm（额定） | |
| 分析带宽 | 40 MHz 或 80 MHz | |
| 分辨率带宽设置 | 160个（10%步进） | |
| 动态范围（W-CDMA ACLR） | 81 dB | |
| 显示平均噪声电平（DANL） | -155 dBm/Hz | |
| 测量更新率（本地） | 50 测量/秒 | |
| 测量更新率（远程） | 45 测量/秒 | |
| 相位噪声（10 kHz偏置） | -118 dBc/Hz | |
| 绝对幅度精度 | ±0.24 dB（典型） | |
| 衰减器步进 | 2 dB | |
| 频率范围 | DC - 26.5 GHz |
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