产品概述
SO1400光耦参数测试仪是一款布局紧凑、功能全面、界面友好、操作简洁的单机测试仪器。专为各类光耦参数测试而设计开发，可测试各类单通道、双通道、多通道的模拟光耦、数字光耦、高速光耦、线性光耦等。测试参数包括耐压（BVCEO/BVECO）、输入正向压降（VF）、输出端反向漏电流（ICEO）、反向漏电流（IR）、电流传输比（CTR）、输出导通压降（VCE(sat)）等。产品前面板设有显示屏区域、操作按键区域和接口区域，基于飞思卡尔16位单片机编程的操作程序包含测试程序编辑、程序调用、数据保存、功能类型等常规设置。10档位分档设计，耐压测试电压1400V/可扩展，测试正向压降和输出电流可达1A/可扩展。
核心特点/优势
- 测试各类三极管型的光电耦合器
- 1通道、10档位设计，满足多种测试需求
- 基于飞思卡尔16位单片机编程，运行稳定
- 大容量EEPROM存储器，可存储1000种设置型号
- 可编程的DUT恒流源和电压源，适应不同测试条件
- 内置继电器矩阵自动切换信号通道，提升测试效率
- 高压测试电流分辨率1uA，测试电压高达1400V
- 重复“回路”式测试，解决元件发热和间歇问题
- 桌面台式单机，软件自校准功能，操作便捷
应用领域
- 适用于光耦合器的参数测试与质量筛选
- 适用于电子元器件制造与封装测试
- 适用于半导体行业的研发、生产与质量控制
选型指南/使用建议
建议根据测试对象的通道数、测试参数范围及测试精度需求进行选型。使用时需注意测试电压和电流的上限，确保测试环境安全。设备支持软件自校准功能，建议定期校准以保证测试精度。设备为桌面台式单机，适合实验室及生产线使用。
SO1400 仪器仪表选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 分档数 | 10档位 | |
| 反向漏电流测试分辨率 | 1uA | |
| 反向漏电流测试精度 | <5%+5RD | |
| 反向漏电流测试范围(IR) | 0-2000uA | |
| 存储型号数 | 1000种 | |
| 存储类型 | 大容量EEPROM | |
| 控制芯片 | 飞思卡尔16位单片机 | |
| 测试电压上限 | 1400V | |
| 测试电流上限 | 1A | |
| 测试通道数 | 1通道 | |
| 电流传输比测试分辨率 | 1% | |
| 电流传输比测试精度 | 1%+5RD | |
| 电流传输比测试范围(CTR) | 0-9999 | |
| 耐压测试分辨率 | 1V | |
| 耐压测试精度 | <2%+2RD | |
| 耐压测试范围(BVCEO/BVECO) | 0-1400V | |
| 输入正向压降测试分辨率 | 2mV | |
| 输入正向压降测试精度 | <1%+2RD | |
| 输入正向压降测试范围(VF) | 0-2V | |
| 输出导通压降测试分辨率 | 2mV | |
| 输出导通压降测试精度 | 1%+5RD | |
| 输出导通压降测试范围(VCE(sat)) | 0-2.000V | |
| 输出端反向漏电流测试分辨率 | 1uA | |
| 输出端反向漏电流测试精度 | <5%+5RD | |
| 输出端反向漏电流测试范围(ICEO) | 0-2000uA |
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