中昊芯测 SC2520 仪器仪表

中昊芯测半导体器件参数测试仪

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2026-05-25 21:00:02
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产品概述

中昊芯测 SC2520 是一款专为半导体器件参数测试需求设计的高精度测试仪器。该设备适用于多种半导体器件的性能测试,包括电流、电压、压降、漏电流、耐压等关键参数的测量,广泛应用于半导体封测领域。

核心特点/优势

  • 支持多档位电流测量,覆盖范围广,从 0~200A,分辨率高至 0.01mA
  • 具备脉冲电流测试功能,脉冲宽度为 500us,适用于大电流瞬态测试
  • 支持正向压降测量,范围覆盖 0~10V 和 0~60V,满足不同器件测试需求
  • 具备栅极漏电流测试功能,支持多档位漏电流测量,精度高
  • 耐压测试范围高达 2500Vdc,支持多档位漏电流检测
  • 漏电分辨率可达 100pA,具备一键 zero 校零技术,确保测量精度
  • 支持手动按钮触发和脚踏触发,操作灵活
  • 配备隔离的 RS-485 通讯端口,支持软件升级

应用领域

  • 半导体器件的参数测试与性能评估
  • 功率器件、MOSFET、IGBT 等器件的漏电流、压降、耐压测试
  • 半导体封测生产线中的质量检测与筛选

选型指南/使用建议

建议根据待测器件的电流、电压范围选择合适的测试档位,确保测试精度。测试过程中需注意电源开关的双重控制,确保设备安全。设备支持软件升级,建议定期更新以获取最新功能。测试环境应保持稳定,避免电磁干扰。设备可搭配测试盒与测试座使用,也可根据需要使用开尔文测试夹。

SC2520 仪器仪表选型参数

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更多规格
供电电压 220VAC
开路输出电压 ≥60V
栅极漏电流测试范围 600nA, ±6μA, ±60μA, ±600μA, ±6mA, ±60mA, ±600mA
栅极输出电压 ±30V
正向压降测量范围 0~10V(100-200A), 0~60V(≤100A)
漏电分辨率 100pA
电流分辨率 0.01mA, 0.1mA, 1mA, 10mA
电流档位范围 0~100mA, 100~1000mA, 1~10A, 10~200A
耐压电压 0~2500Vdc
耐压电流 0~2μA, 0~20μA, 0~200μA, 0~2000μA
脉冲宽度 500us
脉冲电流档位 四档

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