产品概述
CNSCAN 天策电子推出的单点薄膜压力测量软件（SPM）与表面平整度检测软件（SFD），是专为薄膜压力测量与表面质量检测设计的软件系统。SPM通过调节传感器灵敏度，适应不同应用场景，支持项目管理方式的数据测量与配置保存。SFD则提供直观的表面平整度检测功能，支持NG/OK一键判定，适用于现场快速检测。
核心特点/优势
- SPM支持通道传感器灵敏度调节，适应多种测量需求
- 软件基于项目管理，支持硬件配置与测量数据保存，便于管理
- SFD支持一键保存与导出检测结果，操作简便
- 支持NG/OK一键判定，提升检测效率
- 数据和图像实时显示，历史图像分析功能支持多测试结果比较
应用领域
- 薄膜压力测量
- 表面平整度检测
- 现场质量检测与判定
选型指南/使用建议
建议根据具体检测需求选择SPM或SFD软件。SPM适用于需要调节传感器灵敏度的薄膜压力测量场景，SFD适用于表面平整度检测与质量判定场景。软件适配系统包括SPM-U、SPM-W和SFD，操作简便，无需复杂设置，适合现场快速部署。
SPM 其它软件选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多技术信息 | ||
| 适配能力 | SPM-U; SPM-W; SFD | |
| 更多规格 | ||
| 数据管理 | Project-based; Historical Image Analysis; Peak Value Recording; Multi-test Result Comparison | |
| Display | NG/OK; Real-time Data and Image | |
| Features | Multi-device Control; Multi-channel Parameter Setting; Multi-channel Time-domain Curve Display; Multi-unit Conversion; Adaptive Interface | |
| Interface | Automatic Connection | |
| Operating System | Windows | |
| Software Type | Single Film Pressure Measurement Software; Surface Flatness Detection Software |
资料下载
SPM 其它软件资源附件
| 文件名称 | 大小 | 操作 |
|---|---|---|
| 软件1 | 381.5 KB | 下载 |
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