产品概述
CNSCAN 天策电子推出的单点薄膜压力测量软件（SPM）与表面平整度检测软件（SFD），是专为薄膜压力测量与表面质量检测设计的软件系统。SPM通过调节传感器灵敏度，适应不同应用场景，支持项目管理方式的数据测量与配置保存。SFD则提供直观的表面平整度检测功能，支持NG/OK一键判定，适用于现场快速检测。
核心特点/优势
- SPM支持通道传感器灵敏度调节，适应多种测量需求
- 软件基于项目管理，支持硬件配置与测量数据保存，便于管理
- SFD支持一键保存与导出检测结果，操作简便
- 支持NG/OK一键判定，提升检测效率
- 数据和图像实时显示，历史图像分析功能支持多测试结果比较
应用领域
- 薄膜压力测量
- 表面平整度检测
- 现场质量检测与判定
选型指南/使用建议
建议根据具体检测需求选择SPM或SFD软件。SPM适用于需要调节传感器灵敏度的薄膜压力测量场景，SFD适用于表面平整度检测与质量判定场景。软件适配系统包括SPM-U、SPM-W和SFD，操作简便，无需复杂设置，适合现场快速部署。
SPM 检测软件选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 操作方式 | 自动连接开机即用, 无需设置 | |
| 显示功能 | 直观显示NG/OK, 数据和图像实时显示 | |
| 记录功能 | 历史图像分析, 一键选择, 一键记录峰值, 多测试结果比较 | |
| 软件类型 | 单点薄膜压力测量软件, 表面平整度检测软件 | |
| 适配系统 | SPM-U, SPM-W, SFD |
产品替代
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SPM 检测软件资源附件
| 文件名称 | 大小 | 操作 |
|---|---|---|
| 软件1 | 381.5 KB | 下载 |
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