产品概述
Optris PI1M27x17 是一款短波红外热像仪，专为高精度非接触式温度测量而设计，适用于金属、陶瓷、半导体等高温材料的表面温度检测。该热像仪采用1微米光谱灵敏度，具有高动态CMOS探测器，分辨率达764 x 480像素，支持高达1 kHz的帧速率，适用于快速热过程的实时监测。
核心特点/优势
- 1微米短波测量波长，提高在高温金属表面的发射率测量精度
- 高动态CMOS探测器，支持全分辨率、子帧模式和线扫描模式
- 快速响应时间，最短1毫秒，适用于高速工业过程
- 支持USB和模拟/数字接口，便于与控制系统集成
- IP67防护等级，适应恶劣工业环境
- 支持线扫描、事件捕获、温度-时间图、温度分布记录等功能
应用领域
- 金属加工中的高温表面温度监测
- 半导体制造过程中的热过程控制
- 陶瓷烧结过程中的温度分布分析
- 工业自动化系统中的实时热成像监控
- 高温材料的非接触式温度测量
选型指南/使用建议
PI1M27x17适用于中等视场角（27°x17°）的测量场景，光学分辨率为400:1，适用于最小距离300mm的目标测量。建议在5°C至50°C的环境温度下使用，相对湿度不超过80%且无凝结。设备支持USB供电，最大功耗2.5W，适合集成到工业控制系统中。可选工业过程接口（PIF）以增强与PLC等系统的连接能力。
PI1M27x17 测温仪选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 像素间距 | 15 µm | |
| 光学分辨率 | 400:1 | |
| 光谱范围 | 0.85 – 1.1 μm | |
| 分辨率 | 764 x 480 像素 | |
| 功耗 | 最大 2.5 W | |
| 工作温度范围 | 5…50°C | |
| 帧率 | 1 kHz | |
| 探测器 | CMOS | |
| 接口 | USB | |
| 最小可测量点大小 | 0.4mm | |
| 测量范围 | 450°C 至 1800°C | |
| 电源 | USB供电 | |
| 精度 | ±1.5%（1 kHz模式下） | |
| 视场角 | 27°x17° | |
| 防护等级 | IP67 |
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