Optris PI1M41x25 测温仪

产品概述

Optris PI1M41x25 是一款短波红外热像仪，专为挑战性物体的非接触式热成像和温度测量而设计。该设备适用于测量热金属、钢材、陶瓷和半导体等材料的表面温度，尤其在金属加工应用中表现出色。PI1M41x25 采用1微米光谱灵敏度，具有高动态CMOS探测器，分辨率高达764 x 480像素，支持高达1 kHz的帧速率，适用于快速热过程的可视化和精确测量。

核心特点/优势

• 1微米短波测量波长，发射率高于传统长波红外测温仪，提升测量精度
• 高动态CMOS探测器，支持多种分辨率模式（全分辨率、子帧模式、快速子帧模式、线扫描）
• 支持高达1 kHz的帧速率，适用于高速热过程监测
• 具备线扫描功能，可实现高精度的线性温度分布测量
• 支持USB和可选的USB GigE（PoE）接口，便于与控制系统集成
• 提供模拟和数字输出，响应时间短至1毫秒
• 具备多种测量功能，如温度-时间图、温度分布、记录与播放、触发等

应用领域

• 金属加工中的热过程监控
• 半导体制造中的表面温度测量
• 陶瓷工业中的高温监测
• 工业自动化系统中的非接触式温度测量
• 科研领域中的热成像分析

选型指南/使用建议

PI1M系列提供多种视场角选项（41°x25°, 27°x17°, 13°x8°, 9°x6°），可根据测量距离和目标大小选择合适的型号。设备支持手动对焦，适用于5°C至50°C的工作环境，防护等级为IP67，适合工业现场使用。建议在使用前进行10分钟预热以确保测量精度。设备支持多种接口和协议，便于集成至现有控制系统。