产品概述
Optris Xi1M28x21 测温仪是德国Optris公司推出的高性能非接触式红外测温系统，适用于高温测量场景。该产品基于20年红外测温工程经验，结合高精度与性价比设计，广泛应用于工业和科研领域。Optris隶属于传感器巨头Micro-Epsilon集团，是全球非接触测温领域的技术领导者。
核心特点/优势
- 采用CMOS探测器，像素间距为15 µm，提供高分辨率图像和温度数据
- 光谱范围为0.85 – 1.1 µm，专为高温测量优化
- 支持多种工作模式，包括全分辨率、子帧模式、线扫描等，适应不同测量需求
- 具备高精度温度测量能力，温度精度在1400°C以下为±1%，1600°C以下为±2%
- 支持多种通信接口，包括USB 2.0、以太网、RS485等，兼容多种工业协议
- 具备IP67防护等级，适应恶劣工业环境
- 支持多种软件平台，如PIXConnect、EasyComm等，便于系统集成
应用领域
- 工业领域：适用于高温金属表面和熔融金属的温度测量
- 科研领域：用于材料科学、热力学等研究中的非接触温度监测
选型指南/使用建议
Xi1M28x21 测温仪适用于测量范围为450°C至1800°C的高温场景，支持20Hz或500Hz的测量频率。建议在0°C至50°C的环境温度下使用，相对湿度不超过95%且无凝结。产品支持USB或以太网供电，也可使用8-30 VDC电源。安装时需注意最小测量距离为300 mm，建议使用M30x1螺纹安装支架。
Xi1M28x21 测温仪选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 像素间距 | 15 µm | |
| 光谱范围 | 高温测量: 0.85 – 1.1 µm | |
| 探测器 | CMOS |
产品替代
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温馨提示
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