产品概述
Optris Xi1M14x10 测温仪是德国Optris公司推出的高性能在线式红外测温系统，专为高温测量设计，适用于工业和科研领域。该产品基于20年红外测温工程经验，具备高精度、高性价比和稳定性能，广泛用于金属表面、熔融金属等高温物体的非接触式温度测量。
核心特点/优势
- 采用CMOS探测器，像素间距为15 µm，提供高分辨率图像和温度数据
- 光谱范围为0.85 – 1.1 µm，适用于高温测量场景
- 支持多种工作模式，包括全分辨率、子帧模式、线扫描等，适应不同测量需求
- 具备高精度温度测量能力，精度在1400°C以下为±1%，1600°C以下为±2%
- 支持多种通信接口（USB、以太网、RS485等）和工业协议（Ethernet/IP、ProfiNet、Modbus TCP等），便于集成
- 具备IP67防护等级，适应恶劣工业环境
- 支持多种软件平台，如PIXConnect、EasyComm等，便于系统集成与数据处理
应用领域
- 工业领域：适用于高温金属表面、熔融金属、玻璃、陶瓷等材料的温度监测
- 科研领域：用于材料科学、热力学、高温实验等研究
选型指南/使用建议
Xi1M14x10 测温仪适用于视场角为14°x10°的测量场景，焦距为25毫米，光学分辨率为401:1，适合中距离高温测量。建议在0°C至50°C的环境温度下使用，相对湿度不超过95%且无凝结。产品支持USB和以太网供电，也可使用8-30 VDC电源。推荐搭配PIXConnect软件进行配置和图像处理。
Xi1M14x10 测温仪选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 像素间距 | 15 µm | |
| 光谱范围 | 高温测量: 0.85 – 1.1 µm | |
| 探测器 | CMOS |
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